講演名 2012-11-29
単結晶β-Ga_2O_3基板を用いたPt/β-Ga_2O_3ショットキーバリアダイオード(窒化物及び混晶半導体デバイス,及び一般)
佐々木 公平, 東脇 正高, 倉又 朗人, 増井 建和, 山腰 茂伸,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 単結晶Ga_2O_3(010)基板を用いてショットキーバリアダイオードを作製した.フローティングゾーンで作製した単結晶Ga_2O_3基板は高い結晶性を有しており,X線ロッキングカーブの半値幅は32秒,エッチピット密度は1×10^4cm^<-2>であった.作製したデバイスはショットキー特性の理想係数がほぼ理想値1.0を示し,電界集中緩和構造を用いていないシンプルなデバイス構造で150V程度の耐圧が得られた.ショットキーバリアハイトを評価した結果,Pt/β-Ga_2O_3界面のバリアハイトは1.3-1.5eVであることがわかった.
抄録(英) We fabricated gallium oxide (Ga_2O_3) Schottky barrier diodes using β-Ga_2O_3 (010) single crystal substrates produced by the floating zone. The crystal quality of the substrates was excellent; the X-ray diffraction rocking curve peak had a full width at half maximum of 32 arcsec, and the etch pit density was less than 1×10^4cm^<-2>. The devices exhibited good characteristics, such as an ideality factor close to the unity and a reasonably high reverse breakdown voltage of about 150V. The Schottky barrier height of the Pt/β-Ga_2O_3 interface was estimated to be 1.3-1.5eV.
キーワード(和) Ga_2O_3 / 酸化ガリウム / ショットキーバリアダイオード / ショットキーバリアハイト
キーワード(英) Ga_2O_3 / Gallium Oxide / Schottky Barrier Diode / Shottky Barrier Height
資料番号 ED2012-71,CPM2012-128,LQE2012-99
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2012/11/22(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 単結晶β-Ga_2O_3基板を用いたPt/β-Ga_2O_3ショットキーバリアダイオード(窒化物及び混晶半導体デバイス,及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Pt/β-Ga_2O_3 Schottky Barrier Diodes Using Single-Crystal β-Ga_2O_3 Substrates
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) Ga_2O_3 / Ga_2O_3
キーワード(2)(和/英) 酸化ガリウム / Gallium Oxide
キーワード(3)(和/英) ショットキーバリアダイオード / Schottky Barrier Diode
キーワード(4)(和/英) ショットキーバリアハイト / Shottky Barrier Height
第 1 著者 氏名(和/英) 佐々木 公平 / Kohei SASAKI
第 1 著者 所属(和/英) タムラ製作所:情報通信研究機構
TAMURA Corporation:National Institute of Information and Communications Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 東脇 正高 / Masataka HIGASHIWAKI
第 2 著者 所属(和/英) 情報通信研究機構:科学技術振興機構
National Institute of Information and Communications Technology:PRESTO, Japan Science and Technology Agency (JST)
第 3 著者 氏名(和/英) 倉又 朗人 / Akito KURAMATA
第 3 著者 所属(和/英) タムラ製作所
TAMURA Corporation
第 4 著者 氏名(和/英) 増井 建和 / Takekazu MASUI
第 4 著者 所属(和/英) 光波
Koha Co., Ltd.
第 5 著者 氏名(和/英) 山腰 茂伸 / Shigenobu YAMAKOSHI
第 5 著者 所属(和/英) タムラ製作所
TAMURA Corporation
発表年月日 2012-11-29
資料番号 ED2012-71,CPM2012-128,LQE2012-99
巻番号(vol) vol.112
号番号(no) 327
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日