| 講演名 | 2012-11-26 商用FPGAのばらつきとBTIによる経年劣化(ディペンダブル設計(1),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-) 石井 翔平, 小林 和淑, |
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| 抄録(和) | 本稿では微細化に伴い顕著になってきたFPGAのばらつきや経年劣化に関する問題に着目し、BTIによるFPGAの経年劣化を定量的に評価し、ばらつきと経年劣化の関連性を示す。90nmと60nmプロセスFPGAの経年劣化の測定を行うために、FPGA上にリングオシレータをマッピングして、その発振周波数の標準偏差を実測した。FPGAの経年劣化に関する測定では温度を室温(25℃)、80℃に保ち、30,000秒経過までの発振周波数のばらつきを測定した。 |
| 抄録(英) | In this paper, we focus on problems concerning variations and degradation on FPGAs which has become dominant due to scaling and quantitatively estimate the degradation of FPGAs by BTI. We show the relationship between variation and degradation. To measure degradation of 90nm and 60nm FPGAs, we map ring oscillators on FPGAs and measure standard deviation of oscillation frequency. As for degradation of FPGAs, we measure variations of oscillation frequency for 30,000 seconds at the room temperature (25℃) or 80>℃. |
| キーワード(和) | BTI / FPGA / ばらつき / 経年劣化 |
| キーワード(英) | BTI / FPGA / Variation / Degradation |
| 資料番号 | VLD2012-72,DC2012-38 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2012/11/19(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 商用FPGAのばらつきとBTIによる経年劣化(ディペンダブル設計(1),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Variations and BTI-induced Aging Degradation on Commercial FPGAs |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | BTI / BTI |
| キーワード(2)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(3)（和/英） | ばらつき / Variation |
| キーワード(4)（和/英） | 経年劣化 / Degradation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 石井 翔平 / Shouhei ISHII |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科 Graduate School of Science & Technology,Kyoto Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小林 和淑 / Kazutoshi KOBAYASHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科:JST,CREST Graduate School of Science & Technology,Kyoto Institute of Technology:JST, CREST |
| 発表年月日 | 2012-11-26 |
| 資料番号 | VLD2012-72,DC2012-38 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 320 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |