講演名 | 2012-11-26 低電力かつ省面積な耐ソフトエラー多重化フリップフロップDICE ACFF(ディペンダブル設計(1),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-) 久保田 勘人, 増田 政基, 小林 和淑, |
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抄録(和) | 近年のLSI設計プロセスの微細化に伴い、ソフトエラーによるLSIの信頼性の低下が問題となってきている。また同時にトランジスタサイズに対する消費電力の増加が問題となっている。本論文では、活性化率に注目して低電力を実現したACFFにDICE構造を取り入れたDICE ACFFを提案する。活性化率30%を下回ると従来のDFFを下回る消費電力となり、DICE構造の特徴であるラッチ内部で発生したパルスによるソフトエラーを補償する回路となった。 |
抄録(英) | Process scaling makes LSI less reliable to soft errors and increases power. We propose a low-power highly-reliable flop-flop called DICE ACFF implemented with the Dual-interlocked storage cell (DICE) and the Adaptive-coupled FF (ACFF). Its power is less than transmission-gate FFs if Data Activity less than 30%. The Dice structure in DICE ACFF has a capability to recover from a single-node upset. The DICE ACFF achieves highly-reliable operations with low power. |
キーワード(和) | 消費電力 / 省面積 / 耐ソフトエラー多重化フリップフロップ / Dual Interlocked storage Cell(DICE) / Adaptive-Coupling FF(ACFF) |
キーワード(英) | Power / Area-Efficient / Radiation-Hard Redundant Flip-Flop / Dual Interlocked storage Cell (DICE) / Adaptive-Coupling FF (ACFF) |
資料番号 | VLD2012-71,DC2012-37 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | VLD |
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開催期間 | 2012/11/19(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 低電力かつ省面積な耐ソフトエラー多重化フリップフロップDICE ACFF(ディペンダブル設計(1),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | A Low-Power and Area-Efficient Radiation-Hard Redundant Flip-Flop DICE ACFF |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 消費電力 / Power |
キーワード(2)(和/英) | 省面積 / Area-Efficient |
キーワード(3)(和/英) | 耐ソフトエラー多重化フリップフロップ / Radiation-Hard Redundant Flip-Flop |
キーワード(4)(和/英) | Dual Interlocked storage Cell(DICE) / Dual Interlocked storage Cell (DICE) |
キーワード(5)(和/英) | Adaptive-Coupling FF(ACFF) / Adaptive-Coupling FF (ACFF) |
第 1 著者 氏名(和/英) | 久保田 勘人 / Kanto KUBOTA |
第 1 著者 所属(和/英) | 京都工芸繊維大学 Kyoto Institute of Technology |
第 2 著者 氏名(和/英) | 増田 政基 / MASAKI Masuda |
第 2 著者 所属(和/英) | 京都工芸繊維大学 Kyoto Institute of Technology |
第 3 著者 氏名(和/英) | 小林 和淑 / Kazutoshi KOBAYASHI |
第 3 著者 所属(和/英) | 京都工芸繊維大学:JST,CREST Kyoto Institute of Technology:JST, CREST |
発表年月日 | 2012-11-26 |
資料番号 | VLD2012-71,DC2012-37 |
巻番号(vol) | vol.112 |
号番号(no) | 320 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 6 |
発行日 |