| 講演名 | 2012-11-15 ソフトウェア開発属性データを用いたニューラルネットワークによる潜在フォールト数の予測(半導体と電子デバイスの信頼性,信頼性一般) 嶋田 遼平, 木村 光宏, |
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| 抄録(和) | ソフトウェア信頼性の定量的な評価を,その開発段階においてなるべく早期に,かつ精度よく行いたいという要望は自然なものである.本研究では,ソフトウェア開発の上流工程から採取された多変量データに対して,ニューラルネットワークを用いることで,そのソフトウェアに潜在しているであろうソフトウェアフォールト数を見積るモデルの性能評価を,既往の重回帰分析による研究結果と比較しながら実際のデータに基づいて行う. |
| 抄録(英) | This paper studies a neural network approach for estimating the number of inherent software faults at the early stage of software development. The model employs several metrics measured in the software development process. We compare the neural network model with a multiple regression analysis in terms of the prediction accuracy based on the actually collected data sets. |
| キーワード(和) | ソフトウェア信頼性 / ニューラルネットワーク / ソフトウェアプロジェクトデータ / ソフトウェア品質管理 / 回帰分析 |
| キーワード(英) | software reliability / neural network / software project data / software quality control / regression analysis |
| 資料番号 | R2012-60 |
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| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2012/11/8(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reliability(R) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ソフトウェア開発属性データを用いたニューラルネットワークによる潜在フォールト数の予測(半導体と電子デバイスの信頼性,信頼性一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Software Reliability Prediction by Neural Network with Software Development Data |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトウェア信頼性 / software reliability |
| キーワード(2)（和/英） | ニューラルネットワーク / neural network |
| キーワード(3)（和/英） | ソフトウェアプロジェクトデータ / software project data |
| キーワード(4)（和/英） | ソフトウェア品質管理 / software quality control |
| キーワード(5)（和/英） | 回帰分析 / regression analysis |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 嶋田 遼平 / Ryohei SHIMADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 法政大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Hosei University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 木村 光宏 / Mitsuhiro KIMURA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 法政大学理工学部 Faculty of Science and Engineering, Hosei University |
| 発表年月日 | 2012-11-15 |
| 資料番号 | R2012-60 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 284 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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