| 講演名 | 2012-11-21 電磁波照射を用いたフォールト攻撃によるICカードからのAES鍵の抽出(情報セキュリティ,ライフログ活用技術,ライフインテリジェンス,オフィス情報システム,一般) 土屋 遊, 岸川 剛, 齋藤 翔平, 遠山 毅, 佐々木 明彦, 佐藤 証, 松本 勉, |
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| 抄録(和) | 暗号モジュールに部分的にフォールトを起こしモジュール内部の暗号鍵を暴くフォールト攻撃は強力な攻撃方法と位置づけられ,フォールト攻撃への耐性評価法の確立が求められている.我々は電磁波照射によるフォールト攻撃評価環境を構築した.この評価環境において,ブロック暗号AES(128ビット鍵)を実装した(フォールト攻撃に対する特段の対策なしの)接触型ICカードを動作させ,AESの10ラウンド目のAddRoundKey処理に合わせて電磁波を照射し,AddRoundKey処理の1クロック毎にフォールトを起こすことに成功した.さらに,フォールトが起きたときの出力暗号文から直接,またフォールトなしの場合の暗号文との排他的論理和を計算することにより,ICカードに内蔵されたAESの鍵の128ビット全てを導出することに成功した.本報告はその詳細を述べるとともに,電磁波照射によるフォールト攻撃への暗号モジュールの耐性評価方法について論じる. |
| 抄録(英) | Fault injection attack, inducing partial fault in a cryptographic module and extracting the inside key, has been considered to be a security threat, and there is a need to develop a method to evaluate the security of cryptographic modules against the fault attack. In our research, we have developed an experiment environment for fault injection attack using electromagnetic irradiation to evaluate the security of cryptographic modules. This environment irradiates electromagnetic wave to a smartcard with software-implemented AES. We have succeeded in inducing a fault in each clock of the AddRoundKey process. As a result, we have extracted the whole 10th round key of AES by a simple operation or directly, from faulty and correct ciphertexts. |
| キーワード(和) | ICカード / MPU / フォールト攻撃 / 電磁波 / AES / DFA / 暗号 |
| キーワード(英) | Smart Card / MPU / Fault Injection Attack / Electromagnetic Wave / AES / DFA / Cryptography |
| 資料番号 | ISEC2012-57,LOIS2012-32 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ISEC |
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| 開催期間 | 2012/11/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Information Security (ISEC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 電磁波照射を用いたフォールト攻撃によるICカードからのAES鍵の抽出(情報セキュリティ,ライフログ活用技術,ライフインテリジェンス,オフィス情報システム,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | How to Extract AES Key from Smart Card by Fault Injection Attack Using Electromagnetic Irradiation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ICカード / Smart Card |
| キーワード(2)（和/英） | MPU / MPU |
| キーワード(3)（和/英） | フォールト攻撃 / Fault Injection Attack |
| キーワード(4)（和/英） | 電磁波 / Electromagnetic Wave |
| キーワード(5)（和/英） | AES / AES |
| キーワード(6)（和/英） | DFA / DFA |
| キーワード(7)（和/英） | 暗号 / Cryptography |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 土屋 遊 / Yuu TSUCHIYA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学大学院環境情報研究院/学府 Graduate School of Environment and Information Sciences, Yokohama National University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 岸川 剛 / Takeshi KISHIKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学大学院環境情報研究院/学府 Graduate School of Environment and Information Sciences, Yokohama National University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 齋藤 翔平 / Shohei SAITO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学大学院環境情報研究院/学府 Graduate School of Environment and Information Sciences, Yokohama National University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 遠山 毅 / Tsuyoshi TOYAMA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学大学院環境情報研究院/学府 Graduate School of Environment and Information Sciences, Yokohama National University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 佐々木 明彦 / Akihiko SASAKI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 森田テック株式会社 Morita-tech Co., Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 佐藤 証 / Akashi SATOH |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 東京大学大規模集積システム設計教育研究センター VLSI Design and Education Center, The University of Tokyo |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 松本 勉 / Tsutomu MATSUMOTO |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学大学院環境情報研究院/学府 Graduate School of Environment and Information Sciences, Yokohama National University |
| 発表年月日 | 2012-11-21 |
| 資料番号 | ISEC2012-57,LOIS2012-32 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 305 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 8 |
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