講演名	2012-10-19 サファイア円柱共振器を用いた銅張誘電体基板の比導電率測定(学生研究発表会,学生研究会/マイクロ波一般) 常光 理志, 小林 禧夫, 馬 哲旺,
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抄録(和)	2誘電体共振器法や1誘電体共振器2モード法は表面比導電率σ_の測定法としてよく知られている。最近、我々は片面銅張誘電体基板の誘電体平板の厚さtが薄いとき、σ_測定法を応用して界面比導電率σ_をサファイア円柱共振器のTE_<011>モードだけで簡易に測定する方法を提案した。本論文では、まずサファイア円柱共振器の複素比誘電率の周波数依存性を測定した結果について述べる。次に、tの異なる3種の基板のσ_を簡易測定法により測定し、MIC形誘電体共振器法による測定値と比較してtに対する適用範囲を検討する。その結果、サファイア円柱の10%以内のtであれば本測定法は有効であることを実証した。
抄録(英)	The two rod resonator method and the one rod resonator method have been commonly used to measure the surface relative conductivity σ_ of conductor plates. Recently, we proposed a simple method to measure interface conductivity σ_ of single-sided copper-clad dielectric plate on condition that the thickness t of the dielectric substrate is thin, in which the TE_<011> mode is basically used in a sapphire rod resonator short-circuited by two conductor plates. This simple method is applied to measure method of σ_. In this paper, at first, we describe the measurements of frequency dependence of the complex permittivity of a sapphire rod resonator. Secondary, we measured σ_ of the substrate of three different t by simple method. Finally, the application range for t is examined by compared measurement values of the simple method and the MIC dielectric resonator method. As a result, it was verified that this measurement method is applicable to less than 10% of thickness of the sapphire rod resonator.
キーワード(和)	表面比導電率 / 界面比導電率 / マイクロ波測定 / サファイア円柱共振器
キーワード(英)	surface conductivity / interface conductivity / microwave measurement / sapphire rod resonator
資料番号	MW2012-97
発行日

研究会情報
研究会	MW
開催期間	2012/10/11(から1日開催)
開催地（和）
開催地（英）
テーマ（和）
テーマ（英）
委員長氏名（和）
委員長氏名（英）
副委員長氏名（和）
副委員長氏名（英）
幹事氏名（和）
幹事氏名（英）
幹事補佐氏名（和）
幹事補佐氏名（英）

講演論文情報詳細
申込み研究会	Microwaves (MW)
本文の言語	JPN
タイトル（和）	サファイア円柱共振器を用いた銅張誘電体基板の比導電率測定(学生研究発表会,学生研究会/マイクロ波一般)
サブタイトル（和）
タイトル（英）	Relative conductivity measurements of a copper-clad dielectric substrate using a sapphire rod resonator
サブタイトル（和）
キーワード(1)（和/英）	表面比導電率 / surface conductivity
キーワード(2)（和/英）	界面比導電率 / interface conductivity
キーワード(3)（和/英）	マイクロ波測定 / microwave measurement
キーワード(4)（和/英）	サファイア円柱共振器 / sapphire rod resonator
第 1 著者 氏名（和/英）	常光 理志 / Masayuki TSUNEMITSU
第 1 著者 所属（和/英）	埼玉大学理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Saitama University
第 2 著者 氏名（和/英）	小林 禧夫 / Yoshio KOBAYASHI
第 2 著者 所属（和/英）	サムテック(有) SUMTEC, Inc., Comprehensive Open Innovation Center, Saitama University
第 3 著者 氏名（和/英）	馬 哲旺 / Zhewang MA
第 3 著者 所属（和/英）	埼玉大学理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Saitama University
発表年月日	2012-10-19
資料番号	MW2012-97
巻番号（vol）	vol.112
号番号（no）	251
ページ範囲	pp.-
ページ数	6
発行日