| 講演名 | 2012-08-23 半導体レーザの雑音特性を用いた物理乱数の生成 : 発振周波数安定化が物理乱数に及ぼす影響に関する考察(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般) 齊藤 高大, 古川 元一, 新井 秀明, 佐藤 孝, 坂本 秀一, 大河 正志, |
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| 抄録(和) | 半導体レーザは、キャリア密度の変動で利得や屈折率が変動し、単一縦モード発振中でも周波数雑音が発生する。我々はこの半導体レーザの周波数雑音を、周波数弁別器を用いて光強度雑音に変換し、更にA/Dで2進数にすることで、物理乱数の生成を行ってきた。しかし、半導体レーザの発振周波数が大きく変動すると、生成される乱数の乱数性が劣化する可能性がある。そのため、安定化半導体レーザによる物理乱数の乱数検定通過率を測定した。 |
| 抄録(英) | The frequency of a semiconductor laser fluctuates around its center optical frequency, owing to a refractive index variation resulting from carrier density fluctuations. By using the frequency discriminator, the frequency noise is converted into the intensity noise, then the amplitude is converted into binary numbers and produce the physical random number from it. But it may degrade its random number characteristic when its center oscillation frequency varies. Here we measure the examination pass rate of the generated binary numbers through this test. |
| キーワード(和) | 半導体レーザ / 周波数雑音 / 乱数生成 / 発振周波数安定化 |
| キーワード(英) | Semiconductor laser / frequency noise / random number generation / laser frequency stabilization |
| 資料番号 | R2012-21,EMD2012-27,CPM2012-52,OPE2012-59,LQE2012-25 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | LQE |
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| 開催期間 | 2012/8/16(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Lasers and Quantum Electronics (LQE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 半導体レーザの雑音特性を用いた物理乱数の生成 : 発振周波数安定化が物理乱数に及ぼす影響に関する考察(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Physical-random number generation using laser diode's noise characteristics : Consideration about the influence of laser diode's oscillation frequency stabilization |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 半導体レーザ / Semiconductor laser |
| キーワード(2)（和/英） | 周波数雑音 / frequency noise |
| キーワード(3)（和/英） | 乱数生成 / random number generation |
| キーワード(4)（和/英） | 発振周波数安定化 / laser frequency stabilization |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 齊藤 高大 / Takahiro SAITO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 新潟大学 Niigata University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 古川 元一 / Genichi FURUKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 新潟大学 Niigata University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 新井 秀明 / Hideaki ARAI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 新潟大学 Niigata University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 佐藤 孝 / Takashi SATO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 新潟大学 Niigata University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 坂本 秀一 / Shuichi SAKAMOTO |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 新潟大学 Niigata University |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 大河 正志 / Masashi OHKAWA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 新潟大学 Niigata University |
| 発表年月日 | 2012-08-23 |
| 資料番号 | R2012-21,EMD2012-27,CPM2012-52,OPE2012-59,LQE2012-25 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 184 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |