講演名 2012-08-23
面発光型半導体レーザの周波数雑音を利用した物理乱数の生成に関する研究(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
川上 航平, 前原 進也, 土井 康平, 新井 秀明, 近藤 尭信, 清水 直弥, 佐藤 孝, 坂本 秀一, 大平 泰生, 大河 正志,
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抄録(和) 大規模シミュレーションや通信の暗号化を行う際に現行では一般的に擬似乱数が用いられている.しかし,近年物理乱数への期待が非常に高まっており,半導体レーザカオスを利用した物理乱数の高速生成も報告されている.そこで本研究では,面発光型半導体レーザの周波数雑音を,Rb原子の吸収線を介して光強度雑音に変換し,A/Dコンバータで2進数列にすることで乱数を生成させ,より高速な物理乱数生成の可能性を検討した.
抄録(英) The pseudo-random number is normally used for large-scale simulation and encryption of communication. On the other hand, the physical-random number is recently expected to be used in these fields because it has no calculable periodicity and so makes the safer cipher. Therefore, many fast physical-random number generations, which use the wide intensity noise characteristic of a diode laser, have been reported. Because the diode laser has very fast frequency noise, we propose the method using it here.
キーワード(和) 半導体レーザ / 物理乱数 / 周波数雑音 / 暗号
キーワード(英) Laser diode / Physical-random number / Frequency noise / Cryptographic application
資料番号 R2012-22,EMD2012-28,CPM2012-53,OPE2012-60,LQE2012-26
発行日

研究会情報
研究会 R
開催期間 2012/8/16(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Reliability(R)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 面発光型半導体レーザの周波数雑音を利用した物理乱数の生成に関する研究(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Random-Number-Generation Using a VCSEL's Frequency Noise Characteristic
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 半導体レーザ / Laser diode
キーワード(2)(和/英) 物理乱数 / Physical-random number
キーワード(3)(和/英) 周波数雑音 / Frequency noise
キーワード(4)(和/英) 暗号 / Cryptographic application
第 1 著者 氏名(和/英) 川上 航平 / Kohei KAWAKAMI
第 1 著者 所属(和/英) 新潟大学大学院自然科学研究科
Sato Lab., Graduate School of Science and Technology, Niigata University
第 2 著者 氏名(和/英) 前原 進也 / Shinya MAEHARA
第 2 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部
Faculty of Engineering, Niigata University
第 3 著者 氏名(和/英) 土井 康平 / Kohei DOI
第 3 著者 所属(和/英) 新潟大学企画戦略本部男女共同参画推進室
Niigata University Gender Equality Office
第 4 著者 氏名(和/英) 新井 秀明 / Hideaki ARAI
第 4 著者 所属(和/英) 新潟大学大学院自然科学研究科
Sato Lab., Graduate School of Science and Technology, Niigata University
第 5 著者 氏名(和/英) 近藤 尭信 / Takanobu KONDO
第 5 著者 所属(和/英) 新潟大学大学院自然科学研究科
Sato Lab., Graduate School of Science and Technology, Niigata University
第 6 著者 氏名(和/英) 清水 直弥 / Naoya SHIMIZU
第 6 著者 所属(和/英) 新潟大学大学院自然科学研究科
Sato Lab., Graduate School of Science and Technology, Niigata University
第 7 著者 氏名(和/英) 佐藤 孝 / Takashi SATO
第 7 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部
Faculty of Engineering, Niigata University
第 8 著者 氏名(和/英) 坂本 秀一 / Shuichi SAKAMOTO
第 8 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部
Faculty of Engineering, Niigata University
第 9 著者 氏名(和/英) 大平 泰生 / Yasuo OHDAIRA
第 9 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部
Faculty of Engineering, Niigata University
第 10 著者 氏名(和/英) 大河 正志 / Masashi OHKAWA
第 10 著者 所属(和/英) 新潟大学工学部
Faculty of Engineering, Niigata University
発表年月日 2012-08-23
資料番号 R2012-22,EMD2012-28,CPM2012-53,OPE2012-60,LQE2012-26
巻番号(vol) vol.112
号番号(no) 180
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
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