講演名 2012-08-24
ワンチップWDMレシーバに向けた石英系AWGとGe PDのSiプラットフォーム上モノリシック集積(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
西 英隆, 土澤 泰, 高 磊, 開 達郎, 福田 浩, 石川 靖彦, 和田 一実, 山田 浩治,
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抄録(和) ECRプラズマCVD法による低温石英膜作製技術を用いて、Si光集積プラットフォーム上に石英系AWGとGePDのモノリシック集積デバイスを作製した。集積したAWGによって全16chの分波に成功し、全出力chに接続されたGePDにおいて1.25Gbps PRBS信号受信と良好なアイ開口が得られることを確認した。さらに、作製した光デバイス上に多チャネルトランスインピーダンスアンプ回路のフリップチップボンディングを行い、将来のワンチップWDMレシーバに向けた光電子集積デバイスの可能性について検討した。
抄録(英) Using low-temperature ECR PECVD technology, a silica-based AWG was monolithically integrated with germanium photodiodes on a Si photonic platform. We confirmed that the integrated AWG successfully demultiplex all of 16-wavelength channels and all of integrated GePDs received 1.25 Gbps PRBS signals with clear eye opening. In addition, we have mounted multi-channel transimpedance amplifiers and limiting amplifiers on the integrated photonic device using flip-chip bonding technology.
キーワード(和) シリコンフォトニクス / モノリシック集積 / ECR-CVD / WDM / AWG / Ge PD
キーワード(英) Si photonics / monolithic integration / ECR-CVD / WDM / AWG / Ge PD
資料番号 R2012-43,EMD2012-49,CPM2012-74,OPE2012-81,LQE2012-47
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 2012/8/16(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) ワンチップWDMレシーバに向けた石英系AWGとGe PDのSiプラットフォーム上モノリシック集積(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Monolithic Integration of a Silica AWG and Ge PDs on Si Photonic Platform for One-Chip WDM Receiver
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) シリコンフォトニクス / Si photonics
キーワード(2)(和/英) モノリシック集積 / monolithic integration
キーワード(3)(和/英) ECR-CVD / ECR-CVD
キーワード(4)(和/英) WDM / WDM
キーワード(5)(和/英) AWG / AWG
キーワード(6)(和/英) Ge PD / Ge PD
第 1 著者 氏名(和/英) 西 英隆 / Hidetaka NISHI
第 1 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所:日本電信電話株式会社ナノフォトニクスセンタ
NTT Microsystem Integration Labs., NTT Corp.:Nanophotonics Center, NTT Corp.
第 2 著者 氏名(和/英) 土澤 泰 / Tai TSUCHIZAWA
第 2 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所:日本電信電話株式会社ナノフォトニクスセンタ
NTT Microsystem Integration Labs., NTT Corp.:Nanophotonics Center, NTT Corp.
第 3 著者 氏名(和/英) 高 磊 / Rai KOU
第 3 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所:日本電信電話株式会社ナノフォトニクスセンタ
NTT Microsystem Integration Labs., NTT Corp.:Nanophotonics Center, NTT Corp.
第 4 著者 氏名(和/英) 開 達郎 / Tatsuro HIRAKI
第 4 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所:日本電信電話株式会社ナノフォトニクスセンタ
NTT Microsystem Integration Labs., NTT Corp.:Nanophotonics Center, NTT Corp.
第 5 著者 氏名(和/英) 福田 浩 / Hiroshi FUKUDA
第 5 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所:日本電信電話株式会社ナノフォトニクスセンタ
NTT Microsystem Integration Labs., NTT Corp.:Nanophotonics Center, NTT Corp.
第 6 著者 氏名(和/英) 石川 靖彦 / Yasuhiko ISHIKAWA
第 6 著者 所属(和/英) 東京大学マテリアル工学専攻
Department of Material Engineering, University of Tokyo
第 7 著者 氏名(和/英) 和田 一実 / Kazumi WADA
第 7 著者 所属(和/英) 東京大学マテリアル工学専攻
Department of Material Engineering, University of Tokyo
第 8 著者 氏名(和/英) 山田 浩治 / Koji YAMADA
第 8 著者 所属(和/英) 日本電信電話株式会社NTTマイクロシステムインテグレーション研究所:日本電信電話株式会社ナノフォトニクスセンタ
NTT Microsystem Integration Labs., NTT Corp.:Nanophotonics Center, NTT Corp.
発表年月日 2012-08-24
資料番号 R2012-43,EMD2012-49,CPM2012-74,OPE2012-81,LQE2012-47
巻番号(vol) vol.112
号番号(no) 182
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
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