| 講演名 | 2012-08-23 光インターコネクション向け1060nm帯面発光レーザー(VCSEL)における信頼性(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般) 神谷 慎一, 今井 英, 舟橋 政樹, 鈴木 理仁, 平岩 浩二, 喜瀬 智文, 中村 照幸, 清水 均, 石川 卓哉, 粕川 秋彦, |
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| 抄録(和) | 我々が開発を行なってきている、1060nm帯面発光レーザー(VCSEL)の高信頼性について報告を行なう。約5000素子を用いて行なった高温通電試験からは、30FIT/chという非常に小さな偶発故障率であることを確認できた。また、170℃の高温加速試験、90℃の比較的低温の通電試験から、摩耗故障においても40℃換算で300年という十分長い平均寿命を持つことが実証された。 |
| 抄録(英) | We report our 1060 nm Vertical Cavity Surface Emitting Lasers (VCSELs) with high reliability. Through high temperature aging tests on about 5,000 devices, the fit rate as small as 30 FITs/ch was obtained for the random failure. And, the wear-out tests at very high temperature of 170 ℃ and lower temperature of 90 ℃ have proved that the median life of our VCSELs is as long as 300 years at 40 ℃. |
| キーワード(和) | 信頼性 / 面発光レーザー / 光インターコネクション / 低消費電力 |
| キーワード(英) | High Reliability / VCSEL / Optical Interconnect / Low Power Consumption |
| 資料番号 | R2012-28,EMD2012-34,CPM2012-59,OPE2012-66,LQE2012-32 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2012/8/16(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 光インターコネクション向け1060nm帯面発光レーザー(VCSEL)における信頼性(光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Reliability of 1060 nm Vertical Cavity Surface Emitting Lasers (VCSELs) for Optical Interconnect |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 信頼性 / High Reliability |
| キーワード(2)（和/英） | 面発光レーザー / VCSEL |
| キーワード(3)（和/英） | 光インターコネクション / Optical Interconnect |
| キーワード(4)（和/英） | 低消費電力 / Low Power Consumption |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 神谷 慎一 / Shinichi KAMIYA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 古河電気工業横浜研究所信頼性グループ Reliability First Group, Furukawa Electric Co., Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 今井 英 / Suguru IMAI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 古河電気工業横浜研究所半導体研究開発センター Photonic Device Research Center, Furukawa Electric Co., Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 舟橋 政樹 / Masaki FUNABASHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 古河電気工業横浜研究所半導体研究開発センター Photonic Device Research Center, Furukawa Electric Co., Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 鈴木 理仁 / Toshihito SUZUKI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 古河電気工業横浜研究所半導体研究開発センター Photonic Device Research Center, Furukawa Electric Co., Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 平岩 浩二 / Koji HIRAIWA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 古河電気工業横浜研究所半導体研究開発センター Photonic Device Research Center, Furukawa Electric Co., Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 喜瀬 智文 / Tomofumi KISE |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 古河電気工業横浜研究所半導体研究開発センター Photonic Device Research Center, Furukawa Electric Co., Ltd. |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 中村 照幸 / Teruyuki NAKAMURA |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 古河電気工業横浜研究所半導体研究開発センター Photonic Device Research Center, Furukawa Electric Co., Ltd. |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 清水 均 / Hitoshi SHIMIZU |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 古河電気工業横浜研究所半導体研究開発センター Photonic Device Research Center, Furukawa Electric Co., Ltd. |
| 第 9 著者 氏名（和/英） | 石川 卓哉 / Takuya ISHIKAWA |
| 第 9 著者 所属（和/英） | 古河電気工業横浜研究所信頼性グループ Photonic Device Research Center, Furukawa Electric Co., Ltd. |
| 第 10 著者 氏名（和/英） | 粕川 秋彦 / Akihiko KASUKAWA |
| 第 10 著者 所属（和/英） | 古河電気工業横浜研究所半導体研究開発センター Reliability First Group, Furukawa Electric Co., Ltd. |
| 発表年月日 | 2012-08-23 |
| 資料番号 | R2012-28,EMD2012-34,CPM2012-59,OPE2012-66,LQE2012-32 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 182 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
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