| 講演名 | 2012-07-02 モンテカルロシミュレーションによるソフトエラー率の数量的評価手法(システムと信号処理及び一般) 矢野 憲, 林田 隆則, 佐藤 寿倫, |
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| 抄録(和) | 本研究では論理回路のSER(Soft Error Rate)の解析を正確に行う数量的評価手法を提案する。提案する手法は仮想的な粒子照射モデルとCMOSプロセスばらつきを考慮に入れたモンテカルロシミュレーションにより実施する。提案する手法を使用して、ソフトエラー耐性のない通常のラッチ、SRAMとソフトエラー耐性を持ったラッチ、SRAMを使用してSERの改善率について評価を行った。使用したソフトエラー耐性ラッチ、SRAMは単一のノードに対するソフトエラーについて十分な耐性があるが、複数ノードに同時期に発生するソフトエラーについては脆弱であり、その特性を提案するシミュレーション手法により正確に解析した。ソフトエラー耐性のある論理回路においては、Qcrit(致命的チャージ量)によるSERの推定が困難である。何故なら複数ノードに注入されたチャージ量の相互作用によりSEU(Single Event Upset)が発生するか否かが決まるためである。提案するシミュレーション手法を用いて、複数ノードに発生する電流注入をモデル化しSERを正確に解析する手法を提案した。 |
| 抄録(英) | In this paper a quantitative approach of SER(Soft Error Rate) of soft error rate estimation is proposed by Monte Carlo simulation by adopting a virtual particle irradiation model with in consideration of CMOS process variation. The proposed method is evaluated on normal Latch and SRAM and soft error tolerant Latch and SRAM. Although the soft error tolerant latch and SRAM introduced have sufficient tolerance about the soft error occurring at single node, they become vulnerable about the soft error which occurs in two or more different nodes during very short period of time. These characteristics are successfully evaluated by using proposed simulation method. |
| キーワード(和) | ソフトエラー / シングルイベントアップセット / モンテカルロシミュレーション / ソフトエラー耐性 |
| キーワード(英) | Soft Error / Single Event Upset / Monte-Carlo simulation / SER-Tolerant |
| 資料番号 | CAS2012-11,VLD2012-21,SIP2012-43,MSS2012-11 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MSS |
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| 開催期間 | 2012/6/25(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Mathematical Systems Science and its applications(MSS) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | モンテカルロシミュレーションによるソフトエラー率の数量的評価手法(システムと信号処理及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Quantitative Approach of Soft Error Rate Estimation by Monte-Carlo Simulation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ソフトエラー / Soft Error |
| キーワード(2)（和/英） | シングルイベントアップセット / Single Event Upset |
| キーワード(3)（和/英） | モンテカルロシミュレーション / Monte-Carlo simulation |
| キーワード(4)（和/英） | ソフトエラー耐性 / SER-Tolerant |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 矢野 憲 / Ken Yano |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 福岡大学工学部電子情報学科:独立行政法人科学技術振興機構 Fukuoka University:Japan Science and Technology Agency |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 林田 隆則 / Takanori Hayashida |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 独立行政法人科学技術振興機構 Fukuoka University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 佐藤 寿倫 / Toshinori Sato |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 福岡大学工学部電子情報学科:独立行政法人科学技術振興機構 Fukuoka University:Japan Science and Technology Agency |
| 発表年月日 | 2012-07-02 |
| 資料番号 | CAS2012-11,VLD2012-21,SIP2012-43,MSS2012-11 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 116 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |