| 講演名 | 2012-06-22 リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討(設計/テスト/検証) 三宅 庸資, 笹川 琢磨, 佐藤 康夫, 梶原 誠司, 三浦 幸也, |
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| 抄録(和) | VLSIの劣化による回路遅延の増加が問題となっている.フィールドテストで高精度な遅延測定を行いその増加を検出するためには,温度や電圧等の遅延への影響を考慮する必要がある.そこで,リングオシレータを核とする温度・電圧モニタ用回路の試作を行い,チップ内部の温度と電圧の測定を行った.本論文では,試作した温度・電圧モニタ用回路の評価結果を利用し,フィールドテストへの活用を行う際の課題と対応策の検討について述べる. |
| 抄録(英) | Delay increase due to aging phenomena is a critical issue of VLSIs. For detecting such increase in field, highly accurate delay measurement that considers the influence by temperature and voltage is strongly needed. Therefore, we developed a TEG, in which ring-oscillator-based monitoring circuits are embedded, and evaluated on-chip temperature and voltage using the monitor circuits. In this paper, we discuss the issues and solutions field for test by using the evaluation results of the chip. |
| キーワード(和) | 劣化検知 / フィールドテスト / 温度・電圧モニタ / リングオシレータ |
| キーワード(英) | Aging / Field test / Temperature and Voltage monitor / Ring Oscillator |
| 資料番号 | DC2012-16 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2012/6/15(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | リングオシレータ利用モニタ回路によるチップ内温度・電圧の試作評価とフィールドテストへの活用検討(設計/テスト/検証) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of the on-chip temperature and voltage using ring-oscillator-based monitoring circuit and a study for an application to field test |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 劣化検知 / Aging |
| キーワード(2)（和/英） | フィールドテスト / Field test |
| キーワード(3)（和/英） | 温度・電圧モニタ / Temperature and Voltage monitor |
| キーワード(4)（和/英） | リングオシレータ / Ring Oscillator |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 三宅 庸資 / Yousuke MIYAKE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 笹川 琢磨 / Takuma SASAKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 佐藤 康夫 / Yasuo SATO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji KAJIHARA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構CREST Kyushu Institute of Technology:JST, CREST |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 三浦 幸也 / Yukiya MIURA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 首都大学東京システムデザイン学部情報通信システム工学コース:独立行政法人科学技術振興機構CREST Tokyo Metropolitan University:JST, CREST |
| 発表年月日 | 2012-06-22 |
| 資料番号 | DC2012-16 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 102 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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