| 講演名 | 2012-06-01 同軸プローブに基づいた複素電磁パラメータの測定に関する一検討(シミュレーション技術,一般) 陳 春平, 高森 大輝, 小田 純矢, 穴田 哲夫, 馬 哲旺, |
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| 抄録(和) | フランジ付き先端開放同軸プローブを用いて、高損失材料からの複素反射係数を測定することにより、材料の複素誘電率と複素透磁率を同時に求める方法は非破壊測定方法の一つとして注目されている。しかし、この方法において、同軸プローブと測定試料との密着が必須であり、試料表面の粗さによるプローブと試料表面の間の非常に薄い空気隙間存在すると、複素材料定数の測定に大きな影響を与える。本稿では、先ず、空気隙間の複素反射係数の振幅および位相へのそれぞれの影響を調べ、隙間は反射係数の位相への影響が振幅への影響より3倍以上大きいという結論が得られた。更に、従来の複素材料定数を同時に測定するための「膜厚変化法」が誤差の大きい位相特性も必要である不利な点を改善するため、より高いロバスト性を持つ「スカラー反射係数(振幅)に基づいた膜厚変化法」を提案し、検討した。先ず、スペクトル領域法を用いて、複素電磁パレメータと反射係数の関係式を導出した。次に、自働測定システムの構成を示し、測定試料の厚さの選択について検討した。最後に、同一の試料において、いくつかの厚さの組み合わせに基づいて、実際に測定を行い、提案した手法の有効性及び妥当性を検証した。 |
| 抄録(英) | A scalar reflectometer based, low cost method, named "multi-thickness method"(MTM), is proposed for non-destructively and simultaneously charactering the complex permittivity and permeability of high loss materials via an open-ended coaxial probe. The measurement system is established, while the sample-loaded open-ended coaxial probe is modeled by the spectral domain immitance(SDI) method. A discussion about how to select the multi thicknesses of test sample is also included based on the analysis and our experience. The broadband frequency-swept measurement has been conducted on a typical absorbing material under different thicknesses combination conditions. The experiment results agree well with the reference data, which validates the feasibility and effectiveness of this improved technique. |
| キーワード(和) | スカラー反射係数に基づいた膜厚変化法 / スカラー反射計 / 複素誘電率 / 複素透磁率 / 同軸プローブ / 非破壊測定法 |
| キーワード(英) | Multi-thickness method(MTM) / Scalar reflectometer / Complex permeability / Complex permittivity / Coaxial probe / Nondestructive measurement |
| 資料番号 | EST2012-1 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EST |
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| 開催期間 | 2012/5/25(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Simulation Technology (EST) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 同軸プローブに基づいた複素電磁パラメータの測定に関する一検討(シミュレーション技術,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Nondestructive and Simultaneous Measurement of Complex EM Parameters with Scalar Reflectometer |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | スカラー反射係数に基づいた膜厚変化法 / Multi-thickness method(MTM) |
| キーワード(2)（和/英） | スカラー反射計 / Scalar reflectometer |
| キーワード(3)（和/英） | 複素誘電率 / Complex permeability |
| キーワード(4)（和/英） | 複素透磁率 / Complex permittivity |
| キーワード(5)（和/英） | 同軸プローブ / Coaxial probe |
| キーワード(6)（和/英） | 非破壊測定法 / Nondestructive measurement |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 陳 春平 / Chun-Ping Chen |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 神奈川大学工学部 Electrical, Electronics and Information Engineering, Kanagawa University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 高森 大輝 / Hiroki Takamori |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 神奈川大学工学部 Electrical, Electronics and Information Engineering, Kanagawa University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 小田 純矢 / Junya Oda |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 神奈川大学工学部 Electrical, Electronics and Information Engineering, Kanagawa University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 穴田 哲夫 / Tetsuo Anada |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 神奈川大学工学部 Electrical, Electronics and Information Engineering, Kanagawa University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 馬 哲旺 / Zhewang Ma |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 埼玉大学工学部 Department of Electrical and Electronics Systems, Saitama University |
| 発表年月日 | 2012-06-01 |
| 資料番号 | EST2012-1 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 74 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |