| 講演名 | 2012-06-22 ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(22)(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般) 和田 真一, 越田 圭治, ノロブリン サインダー, 益田 直樹, 石黒 明, 柳 国男, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎, |
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| 抄録(和) | 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を検討してきた.本論文では,ハンマリング加振機構の基本性能の中で,被加振物に与える衝撃加速度および荷重について検討した.最も簡便な方法である鋼球落下を改良した円柱落下による方法と,ハンマリング加振機構を用いた方法とで,与える加速度および衝撃荷重を比較し,後者においてその測定値の分散が小さいことを示した.また,ハンマリング加振機構により回路基板上各点における加速度分布を測定した.また,加速度ピックアップの質量の差異を用いた換算質量の試算を行い,基板上の位置により相違していることを示し,基板上の位置および接触摩擦力との相関関係について示唆した. |
| 抄録(英) | Authors have studied the influence on contact resistance by actual micro-oscillation to electrical contacts using some oscillating mechanisms. In this paper, the authors discuss an impact acceleration and force transferred to an object, which are important and fundamental elements of the hammering oscillating mechanism. They compare the performance of an improved cyclic steel cylinder drop test and that of hammering oscillating mechanism (HOM). As a result of the comparison they obtain that there less distributions of the measurement values by HOM than those of values by the improved cyclic steel cylinder drop test. Moreover by the HOM they measured the acceleration distributions in the various points of printed circuit board. Because they estimated the converted masses of the objects by using the difference of the mass of acceleration pick-ups, they obtained that the masses were different from each other and they illustrated correlative relationship between contact frictional force and the location on the printed circuit board. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / ハンマリング加振機構 / 接触摩擦力 / 加速度分布 / 換算質量 |
| キーワード(英) | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / hammering oscillating mechanism / contact frictional force / acceleration distribution / converted mass |
| 資料番号 | EMD2012-15,CPM2012-32,OME2012-39 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 2012/6/15(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ハンマリング加振機構および微摺動機構による電気接点の劣化現象 : 加振機構の特性に関する基礎的検討(22)(酸化物,酸化物エレクトロニクス,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation phenomenon of electrical contacts using hammering oscillating mechanism and micro-sliding mechanism : A fundamental study on the performance of the oscillating mechanism (22) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 接触摩擦力 / contact frictional force |
| キーワード(6)（和/英） | 加速度分布 / acceleration distribution |
| キーワード(7)（和/英） | 換算質量 / converted mass |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji KOSHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | ノロブリン サインダー / Saindaa NOROVLING |
| 第 3 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 益田 直樹 / Naoki MASUDA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 石黒 明 / Akira ISHIGURO |
| 第 5 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 柳 国男 / Kunio YANAGI |
| 第 6 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
| 第 7 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 慶応義塾大学:日本工業大学 Keio University:Nippon Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2012-06-22 |
| 資料番号 | EMD2012-15,CPM2012-32,OME2012-39 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 97 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |