講演名 2012-05-18
電気化学堆積Cu_2O薄膜へのH_2O_2処理(酸化物(成膜・評価).電子源,結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
宋 瑛, 市村 正也,
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抄録(和) Cu_2Oはヘテロ接合型太陽電池への光吸収層として応用されている。しかし、バンドギャップが太陽電池の最適値より大きいという欠点がある。本研究では、バンドギャップを制御するため、電気化学堆積のCu_2O薄膜をH_2O_2(30%)に浸して酸化したCu_2O薄膜はCuSO_4の水溶液(乳酸とKOH水溶液でpHを12.5に調整)を用い、40℃付近でガルバノスタットの電気化学堆積法でITOの上に堆積した。そして作製したCu_2O薄膜を90℃まで加熱したH_2O_2(30%)中で10,20と30分酸化処理を試みた。H_2O_2処理によってCu_2O薄膜の酸素組成比を増加させ、バンドギャップを縮小させることができた。
抄録(英) Cu_2O is considered to be promising as an absorber layer material of solar cells, but its band gap is larger than the optimum one. Therefore, we attempted to oxidize Cu_2O using H_2O_2 to increase oxygen ratio and decrease band gap. Cu_2O thin films were deposited on indium-tin-oxide-coated glass from an aqueous solution containing CuSO_4, lactic acid and KOH by the galvanostatic electrochemical deposition at 40℃ with current density of -1mA/cm^2. Then, the as-prepared copper oxide thin film was dipped in H_2O_2 (30%) at 90℃ to oxidize for 10, 20 or 30 minutes. By the H_2O_2 treatment, the oxygen content was increased, and the band gap was decreased.
キーワード(和) Cu_2O薄膜 / H_2O_2処理 / 光吸収 / 組成比率
キーワード(英) Cu_2O thin film / H_2O_2 treatment / photo-absorption / composition ratio
資料番号 ED2012-35,CPM2012-19,SDM2012-37
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 2012/5/10(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 電気化学堆積Cu_2O薄膜へのH_2O_2処理(酸化物(成膜・評価).電子源,結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
サブタイトル(和)
タイトル(英) H_2O_2 Treatment of the Cu_2O Thin Films deposited by the Electrochemical method
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) Cu_2O薄膜 / Cu_2O thin film
キーワード(2)(和/英) H_2O_2処理 / H_2O_2 treatment
キーワード(3)(和/英) 光吸収 / photo-absorption
キーワード(4)(和/英) 組成比率 / composition ratio
第 1 著者 氏名(和/英) 宋 瑛 / Ying Song
第 1 著者 所属(和/英) 名古屋工業大学機能工学専攻
Dept. Eng. Phys., Electronics, Mech., Nagoya Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 市村 正也 / M. Ichimura
第 2 著者 所属(和/英) 名古屋工業大学機能工学専攻
Dept. Eng. Phys., Electronics, Mech., Nagoya Institute of Technology
発表年月日 2012-05-18
資料番号 ED2012-35,CPM2012-19,SDM2012-37
巻番号(vol) vol.112
号番号(no) 34
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日