講演名 2012-05-18
硫酸ガリウム水溶液からの酸化ガリウムの電解析出(酸化物(成膜・評価).電子源,結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
ヴェッキーゾ ジュニ ジョン, 市村 正也,
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抄録(和) 硫酸ガリウム水溶液に少量のNa_2S_2O_3とH_2O_2.を加えた水溶液から電解析出によって酸化ガリウム薄膜を堆積し、堆積電圧、溶液組成、堆積時間などの諸パラメータが堆積膜の性質に与える影響を調べた。オージェ電子分光により組成を評価した。堆積膜は酸素過剰組成であり、少量の硫黄を含むことがある。光電気化学測定により、堆積膜がn型の伝導性と光伝導性を持つことが示された。
抄録(英) Gallium oxide (Ga_2O_3) thin films were prepared by employing facile electrodeposition technique from aqueous gallium sulfate solution with small amount of Na_2S_2O_3 and H2O_2. Effects of different deposition parameters such as deposition voltage, amount of H_2O_2 and deposition time were investigated and presented in this report. Sulfur peak could appear in the Auger electron spectroscopy (AES) spectra of the films deposited using Ga_2(SO_4)_3-Na_2S2O_3-H_2O_2 solution depending on the applied voltage and deposition time. As-deposited films showed oxygen-rich characteristics as evident in the AES result. The films exhibited n-type conductivity and good photosensitivity from photoelectrochemical measurement.
キーワード(和) 酸化ガリウム / 電解析出 / オージェ電子分光 / 光電気化学測定
キーワード(英) Gallium oxide / electrodeposition / AES / photoelectrochemical measurement
資料番号 ED2012-34,CPM2012-18,SDM2012-36
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 2012/5/10(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 ENG
タイトル(和) 硫酸ガリウム水溶液からの酸化ガリウムの電解析出(酸化物(成膜・評価).電子源,結晶成長,評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
サブタイトル(和)
タイトル(英) Electrodeposition of Ga_2O_3 Thin Films from Aqueous Gallium Sulfate Solutions
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 酸化ガリウム / Gallium oxide
キーワード(2)(和/英) 電解析出 / electrodeposition
キーワード(3)(和/英) オージェ電子分光 / AES
キーワード(4)(和/英) 光電気化学測定 / photoelectrochemical measurement
第 1 著者 氏名(和/英) ヴェッキーゾ ジュニ ジョン / Junie Jhon M. VEQUIZO
第 1 著者 所属(和/英) 名古屋工業大学機能工学専攻
Dept. Eng. Phys., Electronics, Mech., Nagoya Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 市村 正也 / Masaya ICHIMURA
第 2 著者 所属(和/英) 名古屋工業大学機能工学専攻
Dept. Eng. Phys., Electronics, Mech., Nagoya Institute of Technology
発表年月日 2012-05-18
資料番号 ED2012-34,CPM2012-18,SDM2012-36
巻番号(vol) vol.112
号番号(no) 34
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日