| 講演名 | 2012-05-29 いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(2) 和田 真一, 越田 圭治, 久保田 洋彰, 澤 孝一郎, |
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| 抄録(和) | 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.これらの機構を用いて接点劣化現象解析を実施する過程で接触抵抗の時系列変動データを処理することが必要となり,通常のデータ処理に加えて非線形データ処理を行うことを試みた.平滑化した時系列変動にはロジスティック・モデルが適合すること,平滑化を緩めることで周期的成分が付加されることが示された.この変動成分は,モデルに時間遅れを導入することで,フィッティングが可能であった.さらに,時間分解能を上げることで,この時系列変動データに準安定なリミットサイクル,および分岐現象が存在することを見出した.原因のひとつとして,外力による加振によって引き起こされる静摩擦力およびクーロン摩擦力が関連していると考えられるが,非線形要素については特定できなかった.今後,さらに解析を進めたいと考える. |
| 抄録(英) | Authors have developed some mechanisms which give real vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on the contact resistance. Because it was necessary to deal with time-sequential data for analyzing the degradation phenomena of electrical contacts by the oscillating mechanisms, they tried to use non-linear data processing in addition to usually linear one. It is shown that smoothed time-sequential data is adapted to the logistic model and the data is adapted to a modified logistic model with a periodic element without smoothing very much. The data is fitted to the model by introducing a time-delay element to them. And it is shown that there are semi-stable limit cycles and bifurcation phenomenon in the time-sequential fluctuation using raw data themselves. It is suggested that there is non-linear phenomenon is caused by static friction and Coulomb's one when external force vibrates the system. It is, however, not yet clear what element is major and what element is minor though it was clear that there are some non-linear elements. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / 微摺動機構 / 相対変位 / 時系列データ / 非線形データ / ロジスティック曲線 / リミットサイクル / 分岐 |
| キーワード(英) | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / micro-sliding mechanism / relative displacement / time-sequential data / non-linear data / logistic curve / limit cycle / bifurcation |
| 資料番号 | NLP2012-35 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | NLP |
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| 開催期間 | 2012/5/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Nonlinear Problems (NLP) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象 : 接触抵抗変動のモデリング(2) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts using some Oscillating Mechanisms : Modeling about Fluctuation of Contact Resistance (2) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | 微摺動機構 / micro-sliding mechanism |
| キーワード(5)（和/英） | 相対変位 / relative displacement |
| キーワード(6)（和/英） | 時系列データ / time-sequential data |
| キーワード(7)（和/英） | 非線形データ / non-linear data |
| キーワード(8)（和/英） | ロジスティック曲線 / logistic curve |
| キーワード(9)（和/英） | リミットサイクル / limit cycle |
| キーワード(10)（和/英） | 分岐 / bifurcation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji KOSHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co. Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 慶応義塾大学:日本工業大学 Keio University:Nippon Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2012-05-29 |
| 資料番号 | NLP2012-35 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 69 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |