| 講演名 | 2012-05-18 Pi-SARにより観測された海面後方散乱の強度分布(リモートセンシング、EW技術、及び一般) 灘井 章嗣, 梅原 俊彦, 佐竹 誠, 小林 達治, 上本 純平, 浦塚 清峰, |
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| 抄録(和) | X-バンド及びL-バンド合成開口レーダで観測された海面からの散乱強度分布が示す非ガウシアン性について、log-normal分布からのずれ及び正規化2次モーメントを用いて解析した。X-バンド並行偏波においては非ガウシアン性は入射角依存性を示したが、L-バンド並行偏波においては入射角依存性は弱かった。また、X-バンド平行偏波間で非ガウシアン性は変化したが、L-バンドにおいては平行偏波間での違いは小さかった。X-バンドにおける非ガウシアン性はL-バンドよりも強かった。加えて、非ガウシアン性の観測方向依存性(相対風向依存性)は小さかった。この非ガウシアン性の違いは海面での散乱機構の違いを示唆している。 |
| 抄録(英) | The probability distribution of backscattering intensity in SAR image of ocean surface in the L- and X-band parallel polarizations are analyzed in terms of the non-Gaussianity using the difference from the log-normal distribution and the normalized 2nd moment. Though in the X-band parallel polarizations, the non-Gaussianities represent the incidence angle dependency, in the L-band, the incidence angle dependency is quite weak. In the X-band, the non-Gaussianity also depends on the polarization. In the L-band the difference of non-Gaussianity between the parallel polarizations is small. The non-Gaussianity in the X-band is stronger than that in the L-band. Moreover, the non-Gaussianity is almost independent to the illumination azimuth (relative direction of illumination to the wind direction). The difference of non-Gaussianity suggests the difference of scattering mechanism on ocean surface. |
| キーワード(和) | 合成開口レーダ / 海面 / 非ガウシアン性 / 散乱強度 |
| キーワード(英) | SAR / ocean / non-Gaussianity / intensity of backscattering |
| 資料番号 | SANE2012-17 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SANE |
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| 開催期間 | 2012/5/11(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Space, Aeronautical and Navigational Electronics (SANE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Pi-SARにより観測された海面後方散乱の強度分布(リモートセンシング、EW技術、及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Intensity Distribution of Backscattering from Ocean Surface observed by Pi-SAR |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 合成開口レーダ / SAR |
| キーワード(2)（和/英） | 海面 / ocean |
| キーワード(3)（和/英） | 非ガウシアン性 / non-Gaussianity |
| キーワード(4)（和/英） | 散乱強度 / intensity of backscattering |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 灘井 章嗣 / Akitsugu NADAI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構統合データシステム研究開発室 Integrated Science Data System research Laboratory, National Institute of Information and Communications Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 梅原 俊彦 / Toshihiko UMEHARA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構電磁波計測研究所 Applied Electromagnetic Research Institute, National Institute of Information and Communications Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 佐竹 誠 / Makoto SATAKE |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構電磁波計測研究所 Applied Electromagnetic Research Institute, National Institute of Information and Communications Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 小林 達治 / Tatsuharu KOBAYASHI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構電磁波計測研究所 Applied Electromagnetic Research Institute, National Institute of Information and Communications Technology |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 上本 純平 / Jyunpei UEMOTO |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構電磁波計測研究所 Applied Electromagnetic Research Institute, National Institute of Information and Communications Technology |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 浦塚 清峰 / Seiho URATSUKA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構電磁波計測研究所 Applied Electromagnetic Research Institute, National Institute of Information and Communications Technology |
| 発表年月日 | 2012-05-18 |
| 資料番号 | SANE2012-17 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | 41 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |