| 講演名 | 2012-03-07 冗長化FF置き換え方式による高信頼性VLSI設計の自動化(信頼性,システムオンシリコンを支える設計技術) 矢野 憲, 吉木 崇人, 林田 隆則, 佐藤 寿倫, |
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| 抄録(和) | ディープサブミクロン領域での素子特性のばらつきや、経年劣化、ソフトエラーによるタイミングエラー対策としてカナリアFFを用いた高信頼性VLSI設計手法の提案を行った。カナリアFFで置き換えるフリップ・フロップの位置の限定手法と配置配線後のチップ面積および消費電力に与える影響について評価を行った。 |
| 抄録(英) | Design automation of highly reliable VLSI using canary FF is proposed. Canary FF is used to detect timing error caused from parameter variations in deep sub-micron domain, aging deterioration and soft errors. Chip area and power overhead by canary FF is investigated by selectively replacing DFF to canary FF using proposed algorithm. |
| キーワード(和) | カナリアフロップ / タイミングエラー / 信頼性システム / 設計自動化 |
| キーワード(英) | Canary Flip-flops / timing error / dependable system / design automation |
| 資料番号 | VLD2011-133 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2012/2/28(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 冗長化FF置き換え方式による高信頼性VLSI設計の自動化(信頼性,システムオンシリコンを支える設計技術) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Design automation of highly reliable VLSI by redundancy FF replacement method |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | カナリアフロップ / Canary Flip-flops |
| キーワード(2)（和/英） | タイミングエラー / timing error |
| キーワード(3)（和/英） | 信頼性システム / dependable system |
| キーワード(4)（和/英） | 設計自動化 / design automation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 矢野 憲 / Ken Yano |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 福岡大学:独立行政法人科学技術振興機構 Fukuoka University:Japan Science and Technology Agency |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 吉木 崇人 / Takahito Yoshiki |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 福岡大学 Fukuoka University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 林田 隆則 / Takanori Hayashida |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 福岡大学 Fukuoka University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 佐藤 寿倫 / Toshinori Sato |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 福岡大学:独立行政法人科学技術振興機構 Fukuoka University:Japan Science and Technology Agency |
| 発表年月日 | 2012-03-07 |
| 資料番号 | VLD2011-133 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 450 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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