講演名 2012-02-08
MgF_2/Feナノドット/MgF_2薄膜における電気伝導特性(機能ナノデバイス及び関連技術)
石川 琢磨, 佐藤 栄太, 浜田 弘一, 有田 正志, 高橋 庸夫,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 表面清浄化に注意して準備したSiO_2/Si基板上に,室温の交互蒸着法によりMgF_2/Feナノドット/MgF_2グラニュラー膜を作成し,基本的電気特性評価を行った.膜の電気伝導はパーコレーション膜厚(~5nm)以下でトンネル伝導であった.Feナノドットサイズは3~5nm程度であると考えられる.約2nmの膜厚の試料に対して,室温で8.6%,4.6Kで15.0%のトンネル磁気抵抗(TMR)効果が得られた.TMR比はバイアス電圧の増加に伴いいったん増加し,その後減少に転じた.最大のTMR比を与える電圧値は低温において低電圧側に移動し,詳細は不明であるものの,単電子伝導の寄与が期待される.
抄録(英) On carefully prepared SiO_2/Si substrates, MgF_2/Fe-nanodots/MgF_2 granular films were prepared, and fundamental electric properties were measured. The conduction type of the films was tunneling when the Fe thickness was less than ca. 5 nm (the percolation thickness). The size of Fe-nanodot was roughly estimated as 3-5 nm. Tunneling magnetoresistance (TMR) ratios of 8.6% (@RT) and 15.0% (@4.6K) were realized in the sample having thickness of about 2 nm. The TMR ratio was increased by increasing the bias voltage, and it decreased by further increment of voltage. Though the details are obscure, influence by single electron conduction is expected.
キーワード(和) トンネル磁気抵抗効果 / ナノドット / 強磁性体
キーワード(英) Tunneling magnetoresistance / Nanodot / Ferromagnetics
資料番号 ED2011-152,SDM2011-169
発行日

研究会情報
研究会 SDM
開催期間 2012/1/31(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Silicon Device and Materials (SDM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) MgF_2/Feナノドット/MgF_2薄膜における電気伝導特性(機能ナノデバイス及び関連技術)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Electrical characteristics of MgF_2/Fe/MgF_2 thin films
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) トンネル磁気抵抗効果 / Tunneling magnetoresistance
キーワード(2)(和/英) ナノドット / Nanodot
キーワード(3)(和/英) 強磁性体 / Ferromagnetics
第 1 著者 氏名(和/英) 石川 琢磨 / Takuma ISHIKAWA
第 1 著者 所属(和/英) 北海道大学大学院情報科学研究科
Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University
第 2 著者 氏名(和/英) 佐藤 栄太 / Eita SATO
第 2 著者 所属(和/英) 北海道大学工学部
School of Engineering Hokkaido University
第 3 著者 氏名(和/英) 浜田 弘一 / Kouichi HAMADA
第 3 著者 所属(和/英) 北海道大学大学院情報科学研究科
Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University
第 4 著者 氏名(和/英) 有田 正志 / Masashi ARITA
第 4 著者 所属(和/英) 北海道大学大学院情報科学研究科
Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University
第 5 著者 氏名(和/英) 高橋 庸夫 / Yasuo TAKAHASHI
第 5 著者 所属(和/英) 北海道大学大学院情報科学研究科
Graduate School of Information Science and Technology, Hokkaido University
発表年月日 2012-02-08
資料番号 ED2011-152,SDM2011-169
巻番号(vol) vol.111
号番号(no) 426
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日