| 講演名 | 2012-02-17 接点形状と電気的耐久性の相関について(機構デバイスの信頼性,信頼性一般) 竹内 史典, 高見 幸二, 森 哲也, |
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| 抄録(和) | パワーリレーにおいて、一般的に接点体積を小さくすれば電気的耐久性が低下する。しかし、リレーの小型化や省資源化の観点から、電気的耐久性を維持したまま接点体積を小さくすることが求められている。本研究では、形状の異なる2種類の接点を作製し、電気的耐久性試験の結果から、現象面の違いについて、考察を行った。その結果、接点形状によって、故障に至るプロセスが異なることを確認した。 |
| 抄録(英) | In power relay, smaller contact volume generally leads to lower electrical endurance. However, for requirement of device-downsizing and provision of depleted resources, contacts have been reduced volume with equivalent electrical characteristics. In this paper, 2 shapes of contact produced experimentally are examined by electrical endurance and analyzed in a view of failure mode. As the result, a process of failure varies according to contact shapes. |
| キーワード(和) | 電気的耐久性 / 接点形状 / 復帰不良 / そり |
| キーワード(英) | Electrical endurance / Contact shape / Reset failure / Warpage |
| 資料番号 | R2011-51,EMD2011-125 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2012/2/10(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reliability(R) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 接点形状と電気的耐久性の相関について(機構デバイスの信頼性,信頼性一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Relationship between Electrical Contact Shapes and Electrical Endurance |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気的耐久性 / Electrical endurance |
| キーワード(2)（和/英） | 接点形状 / Contact shape |
| キーワード(3)（和/英） | 復帰不良 / Reset failure |
| キーワード(4)（和/英） | そり / Warpage |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 竹内 史典 / Fuminori TAKEUCHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | オムロン株式会社材料技術センタ Material Technology Center, Omron Corporation |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 高見 幸二 / Koji TAKAMI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | オムロン株式会社材料技術センタ Material Technology Center, Omron Corporation |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 森 哲也 / Tetsuya MORI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | オムロン株式会社材料技術センタ Material Technology Center, Omron Corporation |
| 発表年月日 | 2012-02-17 |
| 資料番号 | R2011-51,EMD2011-125 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 438 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |