| 講演名 | 2012-02-13 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般) 加藤 隆明, 王 森レイ, 宮瀬 絋平, 佐藤 康夫, 梶原 誠司, |
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| 抄録(和) | スキャン設計を用いた組込み自己テスト(BIST)では,テスト時の高い電力消費が問題である.本研究では,スキャンBISTにおいてスキャンFFの値をシフトする時にトグルするFFの割合(シフトトグル率)を低減することにより,テスト時の消費電力を低減する手法を提案する.提案手法では,テスト発生器で発生した疑似ランダムテストパターンの反転確率を減らす低減回路を付加する.実験では,低減回路によって生成されたテストパターンのシフトトグル率と故障検出率の測定結果について調べ,その有効性を示す. |
| 抄録(英) | Logic BIST using scan design has a problem with high power dissipation during test. In this work we propose a method that reduces shift-toggle rate of scan flip-flops for low power testing of the scan-BIST. The proposed method adds an extra circuit for reduction of the signal transition probability of pseudo random test patterns generated by an LFSR. In the experiment, we show shift-toggle rate and fault coverage of the test patterns generated by the proposed method. |
| キーワード(和) | BIST / スキャンテスト / 低消費電力化 / スキャンシフト電力 |
| キーワード(英) | BIST / scan test / low power dissipation / scan shift power |
| 資料番号 | DC2011-80 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2012/2/6(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について(低消費電力・遅延テスト・高精度欠陥推定,VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A method to reduce shift-toggle rate for low power BIST |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | スキャンテスト / scan test |
| キーワード(3)（和/英） | 低消費電力化 / low power dissipation |
| キーワード(4)（和/英） | スキャンシフト電力 / scan shift power |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 加藤 隆明 / Takaaki KATO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学情報工学部電子情報工学科:独立行政法人科学技術振興機構CREST Department of Computer Science and Electronics Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 王 森レイ / Senling WANG |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構CREST Department of Computer Science and Electronics Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 絋平 / Kohei MIYASE |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構CREST Department of Computer Science and Electronics Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 佐藤 康夫 / Yasuo SATO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構CREST Department of Computer Science and Electronics Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji KAJIHARA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構CREST Department of Computer Science and Electronics Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 発表年月日 | 2012-02-13 |
| 資料番号 | DC2011-80 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 435 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |