| 講演名 | 2012-01-20 ダイナミック光再構成型ゲートアレイのレーザアレイ故障からの復旧試験(一般) 余座 貴志, 渡邊 実, |
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| 抄録(和) | 近年,宇宙開発が進む中で宇宙ロケットや人工衛星,宇宙ステーション向けの組み込みデバイスの研究開発が活発化してきている.宇宙向けのデバイスは一般に長期間に渡り使用されることから,宇宙放射線に対する高い耐性と,遠隔地からの回路修正や仕様変更が可能であることが求められる.そこで,我々はこれらの要望を満たす次世代のデバイス、光再構成型ゲートアレイ(Optically Reconfigurable Gate Array:ORGA)の研究開発に取り組んでいる.しかし,光再構成型ゲートアレイにはレーザの常時点灯故障という致命的な故障モードが存在する.我々はその問題を解決するレーザアレイ故障の復旧手法を提案し,スタティック光再構成型ゲートアレイにおいてその手法が有効であることを実証してきた.しかし,高密度実装が可能なダイナミック光再構成型ゲートアレイに対する本手法の実証は行っていなかった.そこで,本稿ではレーザアレイ故障の復旧手法がダイナミック光再構成型ゲートアレイに対しても有効であることを示す. |
| 抄録(英) | Recently, demand of field programmable gate array (FPGA) uses for space applications is being increased since an FPGA can be reconfigured remotely. However, since under a space environment, high-energy charged particles break FPGA's configuration contexts, FPGA can not be used robustly. Therefore, we have been developing optically reconfigurable gate arrays (ORGAs) which consist of a laser array, a holographic memory, and a programmable gate array VLSI with a photodiode array. The ORGAs are reliable against space radiations since the ORGAs can use a damaged configuration context. Up to now, we have proposed a recovery method for a turn-on laser failure mode in an ORGA. However, the recovery method has never been applied for a dynamic ORGA that use photodiode memory architecture. Therefore, this paper presents that the recovery method is also useful on a dynamic ORGA. |
| キーワード(和) | 光再構成型ゲートアレイ / FPGA / ホログラムメモリ / 故障耐性 |
| キーワード(英) | Optically reconfigurable gate arrays / FPGAs / Holographic memories / Fault tolerance |
| 資料番号 | CAS2011-105 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CAS |
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| 開催期間 | 2012/1/12(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Circuits and Systems (CAS) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ダイナミック光再構成型ゲートアレイのレーザアレイ故障からの復旧試験(一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Recovery experiment from a laser array failure in a Dynamic Optically Reconfigurable Gate Array |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 光再構成型ゲートアレイ / Optically reconfigurable gate arrays |
| キーワード(2)（和/英） | FPGA / FPGAs |
| キーワード(3)（和/英） | ホログラムメモリ / Holographic memories |
| キーワード(4)（和/英） | 故障耐性 / Fault tolerance |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 余座 貴志 / Takashi YOZA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 静岡大学工学部 Shizuoka University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 渡邊 実 / Minoru WATANABE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 静岡大学工学部 Shizuoka University |
| 発表年月日 | 2012-01-20 |
| 資料番号 | CAS2011-105 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 377 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |