| 講演名 | 2012-01-26 PCPメッセージを利用したEPON障害検査装置(コア・メトロシステム,光アクセスシステム・次世代PON,ブロードバンドアクセス方式、(広域)イーサネット,光伝達網(OTN),高速インタフェース,アナログ光伝送,量子通信,一般) 大石 将之, 堀内 幸夫, 西村 公佐, |
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| 抄録(和) | EPONシステムでは,(1)局側装置の指示に従わずに光送出する「故障ONU」,(2)光線路上に存在する反射点に起因する「光多重反射」の2種類の障害が発生し得る.これらの障害はシステム全体の通信に影響を及ぼす上に,局側から障害発生箇所を特定することが困難である.本課題に対し,我々はIEEE標準のMPCPメッセージを利用した障害検査方式を提案している.本稿では,提案方式を実装した検査装置を試作したので報告する. |
| 抄録(英) | In the Ethernet Passive Optical Network (EPON) systems, if an Optical Network Unit (ONU) fails to operate properly and transmits optical noise over its granted time slot, it would prevent an Optical Line Terminal (OLT) from receiving upstream signals from the other ONUs. On the other hand, optical multiple reflections, which results from multiple reflection points in an optical distribution network (ODN), may also have an adverse influence on other ONUs. Under these faulty conditions, it is difficult to identify failures from central offices. In order to solve this problem, we have proposed a diagnosis technique utilizing Multi-Point Control Protocol (MPCP) messages standardized by IEEE. In this paper, we report experimental validation of an ONU tester prototype employing our proposed method. |
| キーワード(和) | EPON / MPCP / 故障ONU / 光多重反射 |
| キーワード(英) | EPON / MPCP / Rogue ONU / Optical multiple reflection |
| 資料番号 | OCS2011-106 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OCS |
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| 開催期間 | 2012/1/19(から1日開催) |
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| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Optical Communication Systems (OCS) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | PCPメッセージを利用したEPON障害検査装置(コア・メトロシステム,光アクセスシステム・次世代PON,ブロードバンドアクセス方式、(広域)イーサネット,光伝達網(OTN),高速インタフェース,アナログ光伝送,量子通信,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | ONU Tester Prototype for Diagnosis of Ethernet Passive Optical Networks Using Multi-Point Control Protocol Messages |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | EPON / EPON |
| キーワード(2)（和/英） | MPCP / MPCP |
| キーワード(3)（和/英） | 故障ONU / Rogue ONU |
| キーワード(4)（和/英） | 光多重反射 / Optical multiple reflection |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 大石 将之 / Masayuki OISHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社KDDI研究所 KDDI R&D Laboratories Inc. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 堀内 幸夫 / Yukio HORIUCHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社KDDI研究所 KDDI R&D Laboratories Inc. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 西村 公佐 / Kosuke NISHIMURA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 株式会社KDDI研究所 KDDI R&D Laboratories Inc. |
| 発表年月日 | 2012-01-26 |
| 資料番号 | OCS2011-106 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 411 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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