| 講演名 | 2011-12-22 最近の家電製品事故とNITEの事故原因究明(製品安全を主として) 川野 和弘, |
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| 抄録(和) | 独立行政法人製品評価技術基盤機構(以下,「NITE」という。)における製品事故収集件数は,平成20年度から平成22年度の3年間に12,690件あり,そのうち家庭用電気製品は6,721件と半数を超えている。NITEが収集した事故情報を基に,最近の家電製品事故に見る特徴的な事故原因とNITEにおける事故原因究明の実例を紹介する。 |
| 抄録(英) | This paper explains a method of investigating accidents causes and examples of the latest home-electronics accidents that actually occurred, from the collected accident information of NITE. |
| キーワード(和) | 溶融痕 / 事故原因 / 家電製品 |
| キーワード(英) | Shorted arc beads / Accidents causes / Home-electronics |
| 資料番号 | SSS2011-22 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SSS |
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| 開催期間 | 2011/12/15(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Safety (SSS) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 最近の家電製品事故とNITEの事故原因究明(製品安全を主として) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | The latest home-electronics accident and accident cause investigation activities in NITE |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 溶融痕 / Shorted arc beads |
| キーワード(2)（和/英） | 事故原因 / Accidents causes |
| キーワード(3)（和/英） | 家電製品 / Home-electronics |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 川野 和弘 / Kazuhiro KAWANO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 独立行政法人製品評価技術基盤機構製品安全センター Product Safety Technology Center, National Institute of Technology and Evaluation, Incorporated Administrative Agency |
| 発表年月日 | 2011-12-22 |
| 資料番号 | SSS2011-22 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 371 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 3 |
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