| 講演名 | 2011-11-30 二重化を用いた演算器アレイにおける故障箇所特定手法(理論とアルゴリズム,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-) 狭間 洋平, 姚 駿, 中田 尚, 中島 康彦, |
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| 抄録(和) | 従来,演算器やプロセッサの故障箇所の特定には三重化を用いてきた.しかし,三重化回路は演算器が三倍必要になり,更に多数決論理も必要であるため,面積オーバーヘッドが問題であり,柔軟性にも欠ける.我々が提案している高信頼演算器アレイ型アクセラレータでは,演算器アレイを利用して二重で処理を行い,再実行によってソフトエラーを回避する.本研究ではハードエラーに対応するために,二重に処理を行う演算器と比較命令を実行する演算器を動的に変更することによって三重化を用いない故障演算器特定手法を提案する.この手法では三重化を用いない代わりに,各演算器の状態を保存するテーブルの情報に基づいた命令再配置による二重化実行のみで故障演算器を特定する.この方法では三重化を用いないため,面積オーバーヘッドを小さく抑えることができると考えられる. |
| 抄録(英) | Triple Modular Redundancy (TMR) is widely used to locating the erroneous unit inside electronic device when the possibility of permanent defects increases due to wear out. However, using TMR circuit will require triple execution units and voter logics, which introduce large hardware overhead but have little flexibility. Previously, we designed a dependable execution inside a Function Unit (FU) array, which covers soft errors by mapping minimal required Dual Modular Redundancy (DMR) executions inside non-hardened units, in this research, we propose a hard error locating method by dynamically adding additional check operations inside the array, under the awareness of a possible permanent fault. This method use a table and an automated tuning method based on remapping to help the original DMR understand the health of each unit. It is expected to be flexible and have small hardware overhead by not using a traditional TMR architecture. |
| キーワード(和) | 耐故障 / 永久故障 / 再マップ / 冗長化 |
| キーワード(英) | Fault tolerance / Hard error / remapping / Dependable computing / non TMR |
| 資料番号 | CPSY2011-51 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPSY |
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| 開催期間 | 2011/11/22(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Computer Systems (CPSY) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 二重化を用いた演算器アレイにおける故障箇所特定手法(理論とアルゴリズム,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A DMR based Parmanent Error Locating Method for a Dependable FU Array |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 耐故障 / Fault tolerance |
| キーワード(2)（和/英） | 永久故障 / Hard error |
| キーワード(3)（和/英） | 再マップ / remapping |
| キーワード(4)（和/英） | 冗長化 / Dependable computing |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 狭間 洋平 / Yohei HAZAMA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 Nara Institute of Science and Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 姚 駿 / Jun YAO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 Nara Institute of Science and Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 中田 尚 / Takashi NAKADA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 Nara Institute of Science and Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 中島 康彦 / Yasuhiko NAKASHIMA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学 Nara Institute of Science and Technology |
| 発表年月日 | 2011-11-30 |
| 資料番号 | CPSY2011-51 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 328 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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