| 講演名 | 2011-11-28 90nmプロセス商用FPGAにマッピングしたリングオシレータの発振周波数の劣化評価(アーキテクチャと評価,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-) 石井 翔平, 小林 和淑, |
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| 抄録(和) | 微細化に伴い顕著になってきたFPGAの経年劣化に関する問題に着目し、NBTIによるFPGAの劣化を定量的に評価した。FPGAの経年劣化を測定する前にCyclone II FPGA上にリングオシレータをマッピングして、その発振周波数の分散を実測で測定した。測定の結果、リングオシレータの発振周波数の分散は5.97%となった。FPGAの経年劣化に関する測定では温度を室温(28℃)、80℃または100℃に保ち、10,000秒経過までの発振周波数の変化を測定した。測定の結果、温度が高いほど発振周波数の劣化が大きく、高温では10,000秒経過時点で0.1%程度の劣化が観測出来た。 |
| 抄録(英) | We focuse on issues related to degradation of FPGAs which has become dominant due to scaling and quantitatively estimate the degradation of FPGAs by NBTI. We map ring oscillators on the Cyclone II FPGAs and measure the variation of oscillation frequency. In the result, the variation of oscillation frequency is 5.97%. As for degradation of FPGAs, we measure the variation of oscillation frequency until 10,000 seconds passed at room temperature (28 degrees), 80 degrees or 100 degrees. As the result, degradation of oscillation frequency increases as temperature became higher and degradation of about 0.1% at 10,000 seconds was observed at high temperature. |
| キーワード(和) | NBTI / FPGA / ばらつき / 経年劣化 |
| キーワード(英) | NBTI / FPGA / Variation / Degradation |
| 資料番号 | VLD2011-55,DC2011-31 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2011/11/21(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 90nmプロセス商用FPGAにマッピングしたリングオシレータの発振周波数の劣化評価(アーキテクチャと評価,デザインガイア2011-VLSI設計の新しい大地-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation of Oscillation Frequency of Ring Oscillators Placed on a 90 nm FPGA |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | NBTI / NBTI |
| キーワード(2)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(3)（和/英） | ばらつき / Variation |
| キーワード(4)（和/英） | 経年劣化 / Degradation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 石井 翔平 / Shouhei ISHII |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科 Graduate School of Science & Technology, Kyoto Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小林 和淑 / Kazutoshi KOBAYAHSI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学大学院工芸科学研究科:JST, CREST Graduate School of Science & Technology, Kyoto Institute of Technology:JST, CREST |
| 発表年月日 | 2011-11-28 |
| 資料番号 | VLD2011-55,DC2011-31 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 324 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |