| 講演名 | 2011-11-18 非定常ポアソン過程の階層ベイズモデルに基づく計数データの信頼性解析(電子デバイスの信頼性,信頼性一般) 貝瀬 徹, |
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| 抄録(和) | 計数データは,時間に依存した故障個数の履歴データなどを意味する.例えば,設備プラントやソフトウェアでは修理やデバグを繰返しており,これらでは計数データに基づいた解析が求められる.特に,信頼度成長の推測を目的とすることもあり,ソフトウェアのデバグ過程の予測などが一例である.故障時間のみを用いた信新性解析ではワイブル分布を用いることが多いが,故障数と故障までの時間を同時に扱い,かつ信頼度成長を推測する場合には確率過程モデルを用いることが基本となる.本報告では,非定常ポアソン過程モデルに着目する.特に,強度モデルにワイブル分布を想定することで時間依存の信頼度成長を想定し,さらに加速モデルを導入した階層ベイズによる複雑な故障モデルの構成を試みる.また,推定法として周辺尤度に基づいた経験ベイズ法を用い,さらに過去の経験に基づく事前分布の設定に基づいたベイズ推論も同時に構成する.ここでは,階層ベイズを構成しない非定常ポアソン過程の加速モデルも構成し,推定には最尤法およびマルコフ・チェイン・モンテカルロを用いたベイズ法の適用も扱う.さらに,これらのモデルおよび推定手法に関する選択をEICに基づいて行うことを提案する. |
| 抄録(英) | In operational management, processes of maintained performances are recorded as counted data. There-fore plants and software have the maintenance processes based on correcting and debugging, and the counted data are analyzed for some evaluations. In particular, the analyses are adopted for estimation of reliability growth and prediction of remained bugs. In generally, the Weibull distribution is applied to failure time data. However, in the case of the counted data, stochastic process models are used. In this paper, the nonhomogeneous Poisson process is addressed to analyze the counted data, and the power model based o the Weibull distribution is used. In addition, accelerated models are formed in the stochastic process. Hierarchical Bayesian methods are also handled with the accelerated models, and parameters are estimated based on marginal likelihood. Moreover Bayesian estimation using Markov chain Monte Carlo and maximum likelihood methods are applied to the stochastic process models. It is shown that the application of the information criterion EIC make the effects for comparison of the counting process models with estimations. |
| キーワード(和) | 非定常ポアソン過程 / 最尤法 / ベイズ / 階層ベイズ / EIC |
| キーワード(英) | Nonhomogeneous Poisson process / Maximum likelihood / Bayes / Hierarchical Bayes / EIC |
| 資料番号 | R2011-34 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2011/11/11(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Reliability(R) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 非定常ポアソン過程の階層ベイズモデルに基づく計数データの信頼性解析(電子デバイスの信頼性,信頼性一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Reliability Analysis for Counted Data Based on Hierarchical Bayesian Models of Nonhomogeneous Poisson Process |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 非定常ポアソン過程 / Nonhomogeneous Poisson process |
| キーワード(2)（和/英） | 最尤法 / Maximum likelihood |
| キーワード(3)（和/英） | ベイズ / Bayes |
| キーワード(4)（和/英） | 階層ベイズ / Hierarchical Bayes |
| キーワード(5)（和/英） | EIC / EIC |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 貝瀬 徹 / Toru KAISE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 兵庫県立大学大学院経営研究科 Graduate School of Business, University of Hyogo |
| 発表年月日 | 2011-11-18 |
| 資料番号 | R2011-34 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 304 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |