講演名 2011/10/17
スキャンチェイン構造に依存しないDESに対するスキャンベース攻撃手法(プロセッサ,DSP,画像処理技術及び一般)
小寺 博和, 柳澤 政生, 戸川 望,
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抄録(和) 近年,暗号モジュールや暗号LSIに対するサイドチャネル攻撃の危険性が指摘されている.その中でもスキャンチェインから取得できるスキャンデータによって秘密鍵を解読するスキャンベース攻撃が注目されている.スキャンベース攻撃では,スキャンチェインから容易にスキャンデータを取得できる性質を利用して秘密鍵を解読する.本稿では,スキャンチェインのレジスタ接続順や暗号LSIの動作するタイミングの特定が不要となるDESに対するスキャンベース攻撃手法を提案する.提案手法では,暗号LSIに複数の平文を入力したときの暗号化処理中のスキャンデータの特定の1ビットに着目し,対応するレジスタの変化を観察することで秘密鍵を解読する.暗号LSI以外のレジスタがスキャンチェインに含まれた場合でも秘密の鍵解読が可能となるため,より現実的な条件でスキャンベース攻撃による秘密鍵解読が可能となる.
抄録(英) Side-channel attacks against crypto modules and LSIs become a practical threat these days. Especially, a scan-based attack which retrieves secret keys from scan data is considered to be one of the strongest side-channel attacks. In this paper, a scan-based attack method against DES cryptosystems is proposed. In our method, several plain texts are inputted into a DES module. After that, an attacker retrieves a secret key by observing a specific bit line of these scanned data. Because the values of a specific bit line dependent on the secret key, an attacker can analyze secret key using these values. Even when an attacker does not know scan chain structure implemented on a DES module and even when scan chain includes registers other than DES crypto modules, our proposed method can successfully retrieve its secret key. Several Experimental evaluations are demonstrated to confirm the effectiveness of our proposed method.
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 Vol.2011-SLDM-152 No.11
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2011/10/17(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) スキャンチェイン構造に依存しないDESに対するスキャンベース攻撃手法(プロセッサ,DSP,画像処理技術及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Scan-based Attack against DES Cryptosystems Independent of Scan-structure
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 小寺 博和 / HIROKAZU KODERA
第 1 著者 所属(和/英) 早稲田大学大学院基幹理工学研究科情報理工学専攻
Dept. of Computer Science and Engineering, Waseda University
第 2 著者 氏名(和/英) 柳澤 政生 / MASAO YANGISAWA
第 2 著者 所属(和/英) 早稲田大学大学院基幹理工学研究科電子光システム学専攻
Dept. of Electronic and Photonic Systems, Waseda University
第 3 著者 氏名(和/英) 戸川 望 / Nozomu TOGAWA
第 3 著者 所属(和/英) 早稲田大学大学院基幹理工学研究科情報理工学専攻
Dept. of Computer Science and Engineering, Waseda University
発表年月日 2011/10/17
資料番号 Vol.2011-SLDM-152 No.11
巻番号(vol) vol.111
号番号(no) 258
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日