講演名 2011-10-21
組込みOSS移植工程に対する要求仕様の変更を考慮したハザードレートモデルに関する一考察
田村 慶信, 山田 茂,
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抄録(和) 近年,低コスト・短納期・標準化といった観点から,AndroidやBusyBoxに代表される組込みOSS (open source software,以下OSSと略す)が積極的に採用されている.OSSは,世界中の誰もが開発に参加でき,ソースコードが公開され,誰でも自由に改変可能なソフトウェアであることから,急激に普及が広まっており,最近では,組込み機器に対してもAndroidやBusyBoxに代表される組込みOSSが積極的に採用されつつある.こうしたOSSを利用した組込みシステム開発では,自社で開発されたハードウェア上でOSSが動作するよう修正・再構築する作業である移植工程での品質評価が問題となっている.特に,開発環境の特微からOSSには複数のバージョンが混在しているため,使用するOSSのバージョンによって品質が変化することも問題視されている.本論文では,オープンソースプロジェクトの下で開発されているOSSを利用した組込みシステムの移植工程における信頼性を評価するために,組込みOSSに対する要求仕様の変化を考慮したハザードレートモデルに基づく信頼性評価法を提案する.さらに,実際のOSSのソフトウェア故障発生時間間隔データに対する数値例を示すことにより,組込みOSSの移植性評価法について考察する.
抄録(英) The successful experience of adopting the distributed development model in such open source projects includes GNU/Linux operating system, Apache HTTP server, etc. Especially, an embedded OSS (Open Source Software) known as one of OSS has been gaining a lot of attention in the embedded system area, i.e., Android, BusyBox, TRON, etc, because of the cost reduction, quick delivery, work saving. However, the poor handling of quality problem and customer support prohibit the progress of embedded OSS. Therefore, many companies have been hesitant to innovate the embedded OSS, because an OSS includes several software versions. Also, it is difficult for developers to assess reliability and portability of the porting-phase in case of installing the embedded OSS on a single-board computer. In this paper, we propose a method of software reliability/portability assessment based on a hazard rate model for the embedded OSS. Especially, we analyze actual software failure-occurrence time-interval data to show numerical examples of software reliability/portability assessment considering the change of requirements specification. Moreover, we show that our model may assist quality improvement for embedded OSS systems development.
キーワード(和) 組込みシステム / 要求仕様 / オープンソースソフトウェア / 信頼性 / ハザードレートモデル
キーワード(英) Embedded system / Requirements specification / Open source software / Reliability / Hazard rate model
資料番号 R2011-31
発行日

研究会情報
研究会 R
開催期間 2011/10/14(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Reliability(R)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 組込みOSS移植工程に対する要求仕様の変更を考慮したハザードレートモデルに関する一考察
サブタイトル(和)
タイトル(英) Hazard Rate Model Considering the Change of Requirements Specification for the Porting Phase of an Embedded OSS
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 組込みシステム / Embedded system
キーワード(2)(和/英) 要求仕様 / Requirements specification
キーワード(3)(和/英) オープンソースソフトウェア / Open source software
キーワード(4)(和/英) 信頼性 / Reliability
キーワード(5)(和/英) ハザードレートモデル / Hazard rate model
第 1 著者 氏名(和/英) 田村 慶信 / Yoshinobu TAMURA
第 1 著者 所属(和/英) 山口大学大学院理工学研究科
Graduate School of Science and Engineering, Yamaguchi University
第 2 著者 氏名(和/英) 山田 茂 / Shigeru YAMADA
第 2 著者 所属(和/英) 鳥取大学大学院工学研究科
Graduate School of Engineering, Tottori University
発表年月日 2011-10-21
資料番号 R2011-31
巻番号(vol) vol.111
号番号(no) 253
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日