| 講演名 | 2011-10-26 Bi_2Sr_2CaCu_2O_xスタックからのテラヘルツ波検出法に関する研究(薄膜プロセス・材料,一般) 加藤 孝弘, 浅野 武史, 須永 悟, 川上 彰, 安井 寛治, 濱崎 勝義, |
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| 抄録(和) | Bi_2Sr_2CaCu_2O_x(Bi-2212)の特異な結晶構造に起因するスタック型Josephson接合は,テラヘルツ発振の実験等が精力的に進められているが,THz放射を確認できる研究グループは少ない,我々は希塩酸(pH=1.65)を用いてBi-2212単結晶の表裏両面を加工する新しいDSP法を開発し,これまで固有接合に関する研究を進めてきた.今回,DSP法によって約1mm角のBi-2212単結晶内に発振用素子と検出用素子を集積化したデバイスを作製し特性評価を行ったので報告する. |
| 抄録(英) | We fabricated device of Bi_2Sr_2CaCu_2O_<8+x> (Bi-2212) intrinsic Josephson junctions by using a dilute acid solution (pH=1.65) which compose stacks of oscillator and detector. The stacks, which were fabricated from a single crystal of Bi-2212, were surrounded by an acid-treated product. The critical aspect of this process is that the Bi-2212 surrounding the photo-resist pattern was changed to a transparent material, BiOCl, which was connected with the Bi-2212 crystal. This process provides an easy way to fabricate the integrated Bi-2212 IJJs stacks, which show good current-voltage characteristics with large hysteresis and multiple branches at T=77K. A zero voltage current of the detector stack was measured while scanning the bias current of the oscillator stack. The zero voltage current of the detector stack was suppressed when oscillator stack was biased certain current value. This indicates that the oscillator stack emits radiation. |
| キーワード(和) | Bi_2Sr_2CaCu_2O_<8+δ> / 固有ジョセフソン接合 / テラヘルツ発振 / 集積化 |
| キーワード(英) | Bi_2Sr_2CaCu_2O_<8+δ> / Intrinsic Josephson junction / THz oscillation / Integrated stacks |
| 資料番号 | CPM2011-112 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM |
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| 開催期間 | 2011/10/19(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | Bi_2Sr_2CaCu_2O_xスタックからのテラヘルツ波検出法に関する研究(薄膜プロセス・材料,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Investigation of THz-wave emission from the stacked intrinsic Josephson junctions in a Bi_2Sr_2CaCu_2O_x single crystal |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | Bi_2Sr_2CaCu_2O_<8+δ> / Bi_2Sr_2CaCu_2O_<8+δ> |
| キーワード(2)（和/英） | 固有ジョセフソン接合 / Intrinsic Josephson junction |
| キーワード(3)（和/英） | テラヘルツ発振 / THz oscillation |
| キーワード(4)（和/英） | 集積化 / Integrated stacks |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 加藤 孝弘 / Takahiro Kato |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学工学部電気系 Department of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 浅野 武史 / Takeshi Asano |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学工学部電気系 Department of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 須永 悟 / Satoru Sunaga |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学工学部電気系 Department of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 川上 彰 / Akira Kawakami |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構 Kobe Advanced ICT Research Center, National Institute of Information and Communications Technology |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 安井 寛治 / Kannji Yasui |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学工学部電気系 Department of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 濱崎 勝義 / Katsuyoshi Hamasaki |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 長岡技術科学大学工学部電気系 Department of Electrical Engineering, Nagaoka University of Technology |
| 発表年月日 | 2011-10-26 |
| 資料番号 | CPM2011-112 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 264 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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