講演名 2011-10-20
高電磁環境下における過渡故障に耐性を持つ順序回路方式の検討(ネットワーク環境でのディペンダビリティ,及び一般)
サイサナソンカム アロムハック, 今井 健太, 小山 善史, 新井 雅之, 福本 聡,
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 近年,電力変換回路の小型化や高密度化の研究が進んでいる.それに伴って,制御回路やゲート駆動回路などの周辺回路と大電流の主回路とが著しく接近して実装されるようになった.そのため,パルス大電流部分の近傍に発生する電磁放射が,制御回路や周辺回路に大規模な過渡故障を起こす可能性が増大している.本研究では,DC-ACインバータによって引き起こされる電磁放射を原因とする過渡故障に耐性を持つ順序回路方式を提案する.提案アーキテクチャは,BIST(Built-in Self Test)回路を繰り返し動作させることで過渡故障の継続期間を計測し,通常動作時に発生する過渡故障の影響を回避するために,クロック信号を適切に無効化する.
抄録(英) Recently, research on miniaturizing and densifying the power converter circuit are showing significant progressions. Consequently, control circuit and gate driver circuit are getting extremely close to the high current main circuit. Thus the electro-magnetic radiation generated nearby the high current pulse may affect the control circuit and the neighboring circuits as transient faults. In this paper we propose a fault-tolerant sequential circuit, which can tolerate periodic transient faults due to electromagnetic radiation caused by DC-AC inverters. The proposed circuit repeatedly applies functional BIST to measure the duration of a transient fault, and then appropriately negates clock signals during normal operation to avoid the effects of the faults.
キーワード(和) 耐過渡故障回路 / オンラインBIST / 電磁放射 / DC-ACインバータ
キーワード(英) transient fault tolerant circuit / on-line functional BIST / electromagnetic radiation / DC-AC inverter
資料番号 DC2011-21
発行日

研究会情報
研究会 DC
開催期間 2011/10/13(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Dependable Computing (DC)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 高電磁環境下における過渡故障に耐性を持つ順序回路方式の検討(ネットワーク環境でのディペンダビリティ,及び一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Study on Sequential Circuits Tolerating for Transient Faults in a Highly Electromagnetic Environment
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 耐過渡故障回路 / transient fault tolerant circuit
キーワード(2)(和/英) オンラインBIST / on-line functional BIST
キーワード(3)(和/英) 電磁放射 / electromagnetic radiation
キーワード(4)(和/英) DC-ACインバータ / DC-AC inverter
第 1 著者 氏名(和/英) サイサナソンカム アロムハック / Aromhack SAYSANASONGKHAM
第 1 著者 所属(和/英) 首都大学東京大学院システムデザイン研究科
Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University
第 2 著者 氏名(和/英) 今井 健太 / Kenta IMAI
第 2 著者 所属(和/英) 首都大学東京大学院システムデザイン研究科
Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University
第 3 著者 氏名(和/英) 小山 善史 / Yoshifumi KOYAMA
第 3 著者 所属(和/英) 首都大学東京大学院システムデザイン研究科
Graduate School of System Design, Tokyo Metropolitan University
第 4 著者 氏名(和/英) 新井 雅之 / Masayuki ARAI
第 4 著者 所属(和/英) 首都大学東京システムデザイン学部
Faculty of System Design, Tokyo Metropolitan University
第 5 著者 氏名(和/英) 福本 聡 / Satoshi FUKUMOTO
第 5 著者 所属(和/英) 首都大学東京システムデザイン学部
Faculty of System Design, Tokyo Metropolitan University
発表年月日 2011-10-20
資料番号 DC2011-21
巻番号(vol) vol.111
号番号(no) 252
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日