講演名 2011/8/18
MOSダブルゲート/CNTトランジスタを用いた再構成可能な論理回路のパターン面積の検討(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
林 隆程, 渡辺 重佳,
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抄録(和) 再構成可能な2~6入力の論理回路のパターン設計を初めて行い、MOSダブルゲート型トランジスタ(DG)、CNT型トランジスタ(CNT)、両者の組み合わせ(DG and CNT)で設計した場合のパターン面積、製造コスト、実現論理の種類等を比較した。
抄録(英) Pattern area for 2~6 input reconfigurable logic circuit with double-gate (DG), Carbon-Nano-Tube (CNT), double-gate and Carbon-Nano-Tube (DG and CNT) has been newly estimated. Pattern area and number of logic dependence on input number of logic circuit has been analyzed.
キーワード(和) MOSダブルゲート型トランジスタ / CNT型トランジスタ / 再構成可能 / 論理回路 / パターン面積
キーワード(英) MOS double gate transistor / CNT transistor / reconfigurable logic / logic circuit / pattern area
資料番号 ICD2011-41,SDM2011-73
発行日

研究会情報
研究会 ICD
開催期間 2011/8/18(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語 JPN
タイトル(和) MOSダブルゲート/CNTトランジスタを用いた再構成可能な論理回路のパターン面積の検討(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Study of pattern area for reconfigurable logic circuit with DG/CNT transistor
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) MOSダブルゲート型トランジスタ / MOS double gate transistor
キーワード(2)(和/英) CNT型トランジスタ / CNT transistor
キーワード(3)(和/英) 再構成可能 / reconfigurable logic
キーワード(4)(和/英) 論理回路 / logic circuit
キーワード(5)(和/英) パターン面積 / pattern area
第 1 著者 氏名(和/英) 林 隆程 / Takamichi HAYASHI
第 1 著者 所属(和/英) 湘南工科大学大学院工学研究科
Department of Engineering Research, Shonan Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 渡辺 重佳 / Shigeyoshi WATANABE
第 2 著者 所属(和/英) 湘南工科大学情報工学科
Department of Information Science, Shonan Institute of Technology
発表年月日 2011/8/18
資料番号 ICD2011-41,SDM2011-73
巻番号(vol) vol.111
号番号(no) 188
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日