| 講演名 | 2011-07-22 リング型バッファチェインとリングオシレータの共有構造を用いた完全デジタル型PMOS/NMOSプロセスばらつきモニタ回路(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路) 飯塚 哲也, 浅田 邦博, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 本論文ではリング型バッファチェインとリングオシレータを共有した構造を持つオンチッププロセスばらつきモニタ回路を提案する。提案回路ではリング型バッファモード時にリング内を伝搬するパルスの幅がリングを構成するバッファの立ち上がりおよび立ち下がり遅延時間に依存して変化する性質を利用し、そのパルスが消失するまでの回転数、およびパルス消失後のバッファ出力の極性をモニタすることでバッファの立ち上がり・立ち下がり伝搬遅延時間の差を検出し、さらにオシレータモード時の発振周期から、バッファの立ち上がり・立ち下がり伝搬遅延時間の和を検出することで単一リング回路を用いたPMOS/NMOSプロセスばらつきのモニタを実現する。提案回路では、従来の独立したリング構造を持つ回路と比較して約40%の面積を削減する事ができる。65nm CMOSプロセスを用いて提案回路の試作を行い、2つの異なるロットに対して行ったばらつき測定結果により提案回路の妥当性を示す。 |
| 抄録(英) | This paper proposes an all-digital process variability monitor based on a shared structure of a buffer ring and a ring oscillator. The proposed circuit monitors the PMOS and NMOS process variabilities independently according to a count number of a single pulse which propagates on the ring during the buffer ring mode, and a oscillation frequency during the ring oscillator mode. Using this shared-ring structure, we reduce the occupation area about 40% without loss of process variability monitoring properties compared with the conventional circuit. The proposed shared-ring circuit has been fabricated in 65nm CMOS process and the measurement results with two different wafer lots show the feasibility of the proposed process variability monitoring scheme. |
| キーワード(和) | プロセスばらつき / オンチップモニタ / リング型バッファチェイン / 完全デジタル型 |
| キーワード(英) | process variability / on-chip monitor / buffer ring / all digital |
| 資料番号 | ICD2011-26 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
|---|---|
| 開催期間 | 2011/7/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | リング型バッファチェインとリングオシレータの共有構造を用いた完全デジタル型PMOS/NMOSプロセスばらつきモニタ回路(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | All-Digital PMOS and NMOS Process Variability Monitor Utilizing Shared Buffer Ring and Ring Oscillator |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | プロセスばらつき / process variability |
| キーワード(2)（和/英） | オンチップモニタ / on-chip monitor |
| キーワード(3)（和/英） | リング型バッファチェイン / buffer ring |
| キーワード(4)（和/英） | 完全デジタル型 / all digital |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 飯塚 哲也 / Tetsuya IIZUKA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京大学工学系研究科電気系工学専攻 Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 浅田 邦博 / Kunihiro ASADA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京大学工学系研究科電気系工学専攻 Dept. of Electrical Engineering and Information Systems, University of Tokyo |
| 発表年月日 | 2011-07-22 |
| 資料番号 | ICD2011-26 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 151 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |