| 講演名 | 2011-05-27 EMCテクノロジーヘの課題(マイクロ波,EMC,一般) 仁田 周一, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | テクノロジーとは?ハードウエア仕様書、システム仕様書、機能設計或いは、製造設計の段階で定量的に仕様を予測し、試験/検査の段階で確認された仕様が予測値と大きく異なっていないことが実現出来ること又、仕様予測時に使用する手法としては、グラフ、計算等で計算は四則演算で行えるようになっていることがテクノロジーが確立していると定義する。 EMC はその意味で未だテクノロジーと言えるレベルには達していない。EMCで言えば、機器/システムが上記の段階で放射電磁界の定量的な予測が可能、又、伝導性ノイズ、放射電磁界、静電気等に対する耐性が対テスト機器、或いは環境測定値との対応で定量的な予測が可能であり、試験/検査時に得られたデータが予測値と土20%程度の違いであることを実現出来ることがEMCがテクノロジーというレベルに到達していることであろう。そのためには、次のような課題を解決しておく必要があろう。1.システムEMCの実現 2.ソフトウエアとEMCの関連 3.測定された環境と機器/システムの動作保証 4.実際の電磁環境とテスト機器との対応 5.統計的表現と各機器/システムの対応 6.誤動作時の安全性の確保 7.測定の再現性 他にも多くの解決すべき課題がある。講演では上記課題の夫々について現状を述べ、解決への道を探る。 |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | EMCJ2011-26,MW2011-23,EST2011-19 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EST |
|---|---|
| 開催期間 | 2011/5/19(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electronic Simulation Technology (EST) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | EMCテクノロジーヘの課題(マイクロ波,EMC,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 仁田 周一 |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京農工大学 |
| 発表年月日 | 2011-05-27 |
| 資料番号 | EMCJ2011-26,MW2011-23,EST2011-19 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 66 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 91 |
| 発行日 | |