講演名 2011-05-26
赤外線2次元ロックインアンプによる基板近傍電磁界分布測定(マイクロ波,EMC,一般)
千代 憲隆, 小峯 祐司, 田中 康寛, 西方 敦博, 平野 拓一, 前野 恭,
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抄録(和) 筆者らが開発した電磁界強度分布測定装置は,電磁波を吸収し発熱する幕の温度分布を赤外線カメラで測定することで電磁界強度に応じた2次元の温度変化分布を観測することができる.また,検出装置自体が電磁界分布を乱すことは少なく,電磁波源近傍の測定も可能である.本装置を用いれば電磁界解析に時間を要する高密度実装電子回路基板などであっても,回路の不要電磁輻射評価に有用な近傍電磁界強度の可視化が容易であると考えられる.本論文では,本装置によってダイポールアンテナ近傍の電界/磁界強度分布を観測した結果と,電磁波吸収幕の温度変化と電界/磁界強度の関係を求めた結果を示す.さらに,マイクロストリップライン,および,バランスフィルタを実装した回路基板のごく近傍に形成される高周波電界の観測を試みた結果を報告する.
抄録(英) We have developed an electromagnetic field intensity distribution measurement system using electromagnetic absorption screen. In this system, a very small temperature change on a screen illuminated with an electromagnetic wave is measured using an infrared thermograph camera. It is expected that this system is very useful for the evaluation of the electromagnetic noise emitted from electric devices. In this paper, we describe measurement results of the electric/magnetic field near a dipole antenna. Furthermore, we tired to measure the electric field near circuit boards. We could have a clear image of the electromagnetic field by using this system.
キーワード(和) ダイポールアンテナ / マイクロストリップライン / バランスフィルタ / 不要電磁幅射 / 回路基板近傍電磁界 / 2次元ロックインアンプ / 可視化 / 測定
キーワード(英) Dipole antenna / Micro strip line / Balance filter / Electromagnetic noise / Electromagnetic field near circuit board / 2-D lock-in amplifier / Visualization / Measurement
資料番号 EMCJ2011-11,MW2011-8,EST2011-4
発行日

研究会情報
研究会 EST
開催期間 2011/5/19(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electronic Simulation Technology (EST)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 赤外線2次元ロックインアンプによる基板近傍電磁界分布測定(マイクロ波,EMC,一般)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Measurement of Electromagnetic Field Intensity Measurement near Circuit Board using Infrared 2-D Lock-in Amplifier
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ダイポールアンテナ / Dipole antenna
キーワード(2)(和/英) マイクロストリップライン / Micro strip line
キーワード(3)(和/英) バランスフィルタ / Balance filter
キーワード(4)(和/英) 不要電磁幅射 / Electromagnetic noise
キーワード(5)(和/英) 回路基板近傍電磁界 / Electromagnetic field near circuit board
キーワード(6)(和/英) 2次元ロックインアンプ / 2-D lock-in amplifier
キーワード(7)(和/英) 可視化 / Visualization
キーワード(8)(和/英) 測定 / Measurement
第 1 著者 氏名(和/英) 千代 憲隆 / Noritaka CHIYO
第 1 著者 所属(和/英) 東京都市大学
Tokyo City University
第 2 著者 氏名(和/英) 小峯 祐司 / Yuji KOMINE
第 2 著者 所属(和/英) 東京都市大学
Tokyo City University
第 3 著者 氏名(和/英) 田中 康寛 / Yasuhiro TANAKA
第 3 著者 所属(和/英) 東京都市大学
Tokyo City University
第 4 著者 氏名(和/英) 西方 敦博 / Atsuhiro NISHIKATA
第 4 著者 所属(和/英) 東京工業大学
Tokyo Institute of Technology
第 5 著者 氏名(和/英) 平野 拓一 / Takuichi HIRANO
第 5 著者 所属(和/英) 東京工業大学
Tokyo Institute of Technology
第 6 著者 氏名(和/英) 前野 恭 / Takeshi MAENO
第 6 著者 所属(和/英) 情報通信研究機構:東京都市大学
National Institute of Information and Communications Technology:Tokyo City University
発表年月日 2011-05-26
資料番号 EMCJ2011-11,MW2011-8,EST2011-4
巻番号(vol) vol.111
号番号(no) 66
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日