| 講演名 | 2011-05-20 AlGaN系紫外発光素子の通電特性 : UV-LEDの劣化メカニズム(発光デバイス,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料)) 朴 貴珍, 杉山 貴之, 谷川 智之, 本田 善央, 山口 雅史, 天野 浩, 稲津 哲彦, 藤田 武彦, ペルノーシリル, 平野 光, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 長時間・大電流駆動によるAlGaN系紫外発光素子の通電特性の変化から発光効率とリーク電流成分の増大の関連性、また、発光層への注入効率とリーク成分の関係性を調べた.劣化初期、通電時間が経つとともにリーク電流は増大、IQEは一定であった.しかし、駆動時間400時間目の結果からIQEの低下が観測された.その原因はリーク電流によるジュール熱であると考えられる. |
| 抄録(英) | We have investigated the relationship between leak current and light efficiency from change in the current-voltage and current-light characteristics of ultraviolet light emitting diodes. With aging time, current-voltage characteristic indicates increase of leak current. The internal quantum efficiency decreased after 400 hours aging time. The possible degradation mechanism of quantum-wells is the thermal stress from leak current which do not effect to light emission of UV-LED. |
| キーワード(和) | AlGaN / 紫外発光素子 / 通電特性 / 漏れ電流 |
| キーワード(英) | AlGaN / UV-LED / Aging Test / Leak Current |
| 資料番号 | ED2011-24,CPM2011-31,SDM2011-37 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ED |
|---|---|
| 開催期間 | 2011/5/12(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | AlGaN系紫外発光素子の通電特性 : UV-LEDの劣化メカニズム(発光デバイス,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料)) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Aging test of AlGaN-based ultraviolet light emitting diodes : The Degradation Mechanism of UV-LED |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | AlGaN / AlGaN |
| キーワード(2)（和/英） | 紫外発光素子 / UV-LED |
| キーワード(3)（和/英） | 通電特性 / Aging Test |
| キーワード(4)（和/英） | 漏れ電流 / Leak Current |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 朴 貴珍 / Gwi Jin PARK |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 名古屋大学大学院工学研究科赤崎記念研究センター Graduate School of Engineering, ARC, Nagoya University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 杉山 貴之 / Takayuki SUGIYAMA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 名古屋大学大学院工学研究科赤崎記念研究センター Graduate School of Engineering, ARC, Nagoya University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 谷川 智之 / Tomoyuki TANIKAWA |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 名古屋大学大学院工学研究科赤崎記念研究センター Graduate School of Engineering, ARC, Nagoya University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 本田 善央 / Yoshio HONDA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 名古屋大学大学院工学研究科赤崎記念研究センター Graduate School of Engineering, ARC, Nagoya University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 山口 雅史 / Masahito YAMAGUCHI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 名古屋大学大学院工学研究科赤崎記念研究センター Graduate School of Engineering, ARC, Nagoya University |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 天野 浩 / Hiroshi AMANO |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 名古屋大学大学院工学研究科赤崎記念研究センター Graduate School of Engineering, ARC, Nagoya University |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 稲津 哲彦 / Tetsuhiko INAZU |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 創光科学 UV Craftory |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 藤田 武彦 / Takehiko FUJITA |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 創光科学 UV Craftory |
| 第 9 著者 氏名（和/英） | ペルノーシリル / Cyril PERNOT |
| 第 9 著者 所属（和/英） | 創光科学 UV Craftory |
| 第 10 著者 氏名（和/英） | 平野 光 / Akira HIRANO |
| 第 10 著者 所属（和/英） | 創光科学 UV Craftory |
| 発表年月日 | 2011-05-20 |
| 資料番号 | ED2011-24,CPM2011-31,SDM2011-37 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | 44 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |