講演名 2011-05-19
電気化学堆積法によるCu_xS及びCu_xZu_yS薄膜の作製(HVPE,その他の薄膜成長と評価,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
楊 凱, 中島 佑基, 市村 正也,
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抄録(和) Cu_xS薄膜を電気化学堆積法(ECD法)により作製した。pH調整剤として硫酸または乳酸を用いて堆積を行った。硫酸を用いた場合は,ITO基板上に安定した薄膜が得られなかったが,乳酸を用いた場合,Cu_<2.6>Sの茶色の薄膜の堆積に成功した。光電気化学測定より,堆積した薄膜はp型半導体であり,光導電性を持つことを確認できた。次いで,Cu_xZu_yS薄膜をECD法により堆積した。最適の条件で堆積した膜は可視光に対して高い透過率を示し,算出したバンドギャップは3.2eVである。p型伝導性と光伝導性を示したことが確認され,n型のZnO薄膜とのヘテロ接合は整流性を示した。
抄録(英) Cu_xS thin films were deposited by the electrochemical deposition (ECD) method on indium-tin oxide-coated (ITO) glass substrates. The pH of the solution was adjusted by sulfuric acid or lactic acid, which can act as a pH buffer. In the case of sulfuric acid, a stable thin film was not obtained, but brown Cu_<2.6>S thin films were successfully deposited in the case of lactic acid. Cu_xZn_yS thin films were also deposited on ITO glass substrates by ECD. The film deposited under optimum conditions exhibited a high optical transmission in the visible range, and its energy band gap was about 3.2 eV. It was confirmed that Cu_xZn_yS showed p-type conduction and photosensitivity. We deposited the heterojunction of the Cu_xZn_yS thin film with an n-type ZnO thin film. In a current-voltage measurement, the heterojunction showed rectification properties.
キーワード(和) 電気化学堆積法(ECD) / Cu_xS / Cu_xZn_yS / 光伝導性
キーワード(英) electrochemical deposition (ECD) / Cu_xS / Cu_xZn_yS / photoconductivity
資料番号 ED2011-1,CPM2011-8,SDM2011-14
発行日

研究会情報
研究会 ED
開催期間 2011/5/12(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Electron Devices (ED)
本文の言語 JPN
タイトル(和) 電気化学堆積法によるCu_xS及びCu_xZu_yS薄膜の作製(HVPE,その他の薄膜成長と評価,結晶成長,評価技術及びデバイス(化合物,Si,SiGe,電子・光材料))
サブタイトル(和)
タイトル(英) Fabrication of Cu_xS and Cu_xZn_yS thin films by the electrochemical deposition method
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 電気化学堆積法(ECD) / electrochemical deposition (ECD)
キーワード(2)(和/英) Cu_xS / Cu_xS
キーワード(3)(和/英) Cu_xZn_yS / Cu_xZn_yS
キーワード(4)(和/英) 光伝導性 / photoconductivity
第 1 著者 氏名(和/英) 楊 凱 / Kai YANG
第 1 著者 所属(和/英) 名古屋工業大学機能工学専攻
Dept. Eng. Phys., Electronics, Mech., Nagoya Institute of Technology
第 2 著者 氏名(和/英) 中島 佑基 / Yuki NAKASHIMA
第 2 著者 所属(和/英) 名古屋工業大学機能工学専攻
Dept. Eng. Phys., Electronics, Mech., Nagoya Institute of Technology
第 3 著者 氏名(和/英) 市村 正也 / Masaya ICHIMURA
第 3 著者 所属(和/英) 名古屋工業大学機能工学専攻
Dept. Eng. Phys., Electronics, Mech., Nagoya Institute of Technology
発表年月日 2011-05-19
資料番号 ED2011-1,CPM2011-8,SDM2011-14
巻番号(vol) vol.111
号番号(no) 44
ページ範囲 pp.-
ページ数 6
発行日