| 講演名 | 2011-03-10 非正常系現象に着目した組込みシステムの障害シナリオ分析手法 三瀬 敏朗, 新屋敷 泰史, 片峯 恵一, 橋本 正明, 中谷 多哉子, 鵜林 尚靖, |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 家電製品等のソフトウェア組込み製品の安全性を向上させるため,ソフトウェアの要求仕様設定時に製品の障害発生可能性を発見する手段として,分析マトリクスとそれを適用した障害シナリオ分析手法ESIM(Embedded System Improving Method)について述べる.組込みシステムの障害には,製品の中の一装置が重大な故障を起し,それが唯一の原因となって発生するものと,軽微な故障がいくつか重複して発生するものがある.前者は,既存の障害分析手法によって想定できているが.後者は,重大なものがあるにも係わらず,その軽微な故障の存在も含めて,想定が困難となっている.特に,いくつかの故障の発生タイミングを動的に分析しなければ判明しない障害は,想定が困難である.本稿では,後者の障害を分析するための分析マトリクスの概念を明確にするとともに,実用性を考慮した分析範囲の絞り込み方法について述べる.また,実用性と有効性を確認するために,実際のプロジェクトに適用した. |
| 抄録(英) | This paper describes an analysis matrix and its method for extracting failure scenarios named ESIM (Embedded System Improving Method) in order to improve the safety of embedded system products such as the household electrical appliances. The method extracts product failures at the definition of the software requirement specifications. We can extract product failures by using existing failure analysis method when the failure occurs due to single serious fault of one device of the product. On the other hand, it is difficult to extract a failure which occurs by overlapping some minor faults although it is a serious problem. Especially, it is hard to extract failures that can only be found by analyzing the timing of the fault occurrence dynamically. This paper refines the analysis matrix which can dynamically analyze overlapping minor faults. It also describes a case study applied to an actual product development project, and discusses about effectiveness and practicality. |
| キーワード(和) | 組込みソフトウェア / 障害分析手法 / 障害シナリオ / 要求分析 |
| キーワード(英) | Embedded Software / A Method for Extracting Failure / Failure Scenario / Requirements Analysis |
| 資料番号 | KBSE2010-50 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | KBSE |
|---|---|
| 開催期間 | 2011/3/3(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Knowledge-Based Software Engineering (KBSE) |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 非正常系現象に着目した組込みシステムの障害シナリオ分析手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Method to Analyze Failure Scenarios of Embedded Systems by Using Unexpected Phenomena |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 組込みソフトウェア / Embedded Software |
| キーワード(2)（和/英） | 障害分析手法 / A Method for Extracting Failure |
| キーワード(3)（和/英） | 障害シナリオ / Failure Scenario |
| キーワード(4)（和/英） | 要求分析 / Requirements Analysis |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 三瀬 敏朗 / Toshiro MISE |
| 第 1 著者 所属（和/英） | パナソニック電工株式会社 Panasonic Electric Works Co., Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 新屋敷 泰史 / Yasufumi SHINYASHIKI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | パナソニック電工株式会社 Panasonic Electric Works Co., Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 片峯 恵一 / Keiichi KATAMINE |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学 Kyushu Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 橋本 正明 / Masaaki HASHIMOTO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学 Kyushu Institute of Technology |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 中谷 多哉子 / Takako NAKATANI |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 筑波大学 University of Tsukuba |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 鵜林 尚靖 / Naoyasu UBAYASHI |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 九州大学 Kyushu University |
| 発表年月日 | 2011-03-10 |
| 資料番号 | KBSE2010-50 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 468 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |