| 講演名 | 2011-03-11 いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 : 接触抵抗変動のモデリング 和田 真一, 越田 圭治, ノロブリン サインダー, 川述 真裕, 小田部 正能, 久保田 洋彰, 池口 徹, 堀尾 喜彦, 澤 孝一郎, |
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| 抄録(和) | 著者らは,電気接点に実用的振動を与えうるいくつかの加振機構を開発し,微小振動が接触抵抗に与える影響を考察できる可能性を検討してきた.これらの機構を用いて接点劣化現象解析を実施する過程で時系列データを処理することが必要となり,通常のデータ処理に加えて非線形的データ処理を行うことを試みた.本方法に対して,接触抵抗の時系列変動の特徴をある程度抽出していると考えられた. |
| 抄録(英) | The authors have developed some mechanisms which give real vibration to electrical contacts and studied the influences of a micro-oscillating on the contact resistance. Because it was necessary to deal with time-sequential data for analyzing the degradation phenomena of electrical contacts by the oscillating mechanisms, they tried non-linear data processing in addition to usually linear one. It was considered that the process extracted the characteristic of time-sequential fluctuation of the contact resistance from experimental results. |
| キーワード(和) | 劣化現象 / 電気接点 / 加振機構 / 接触抵抗 / 時系列データ / 非線形処理 |
| キーワード(英) | degradation phenomenon / electrical contact / oscillating mechanism / contact resistance / time-sequential data / non-linear processing |
| 資料番号 | NLP2010-196 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | NLP |
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| 開催期間 | 2011/3/3(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Nonlinear Problems (NLP) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | いくつかの加振機構による電気接点の劣化現象に関する研究 : 接触抵抗変動のモデリング |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study of Degradation Phenomenon of electrical Contacts by some Oscillating Mechanisms : Modeling about Fluctuation of Contact Resistance |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 劣化現象 / degradation phenomenon |
| キーワード(2)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(3)（和/英） | 加振機構 / oscillating mechanism |
| キーワード(4)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(5)（和/英） | 時系列データ / time-sequential data |
| キーワード(6)（和/英） | 非線形処理 / non-linear processing |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji KOSHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | ノロブリン サインダー / Saindaa NOROVLIN |
| 第 3 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 川述 真裕 / Masahiro KAWANOBE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 小田部 正能 / Masayoshi KOTABE |
| 第 5 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
| 第 6 著者 所属（和/英） | TMCシステム(株) TMC System Co., Ltd. |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 池口 徹 / Tohru IKEGUCHI |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 埼玉大学 Saitama University |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 堀尾 喜彦 / Yoshihiko HORIO |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 東京電機大学 Tokyo Denki University |
| 第 9 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 9 著者 所属（和/英） | 慶応義塾大学:日本工業大学 Keio University:Nippon Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2011-03-11 |
| 資料番号 | NLP2010-196 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 465 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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