| 講演名 | 2011-03-08 蛍光測定によるポリフルオレン薄膜の光劣化過程の観察 : 残留酸素の影響(ポリマー光回路,光機能材料,一般) 中川 将紀, 小林 隆史, 永瀬 隆, 内藤 裕義, |
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| 抄録(和) | 高い効率で青色蛍光を示すポリフルオレンは、デバイス駆動に伴う電流注入により新たにシャープな構造を有する緑色発光帯を生じ、色純度が低下することが問題となっている。しかしながら、OLEDの構造の複雑さや複合的な劣化などにより、その起源の特定は容易ではない。今回我々は、この緑色発光帯が紫外光照射による光劣化でも生じることを見出した。この手法を用いることで、色純度の低下に関して他の劣化現象と切り分けて調べることができた。その結果、この発光帯の起源はOLEDの駆動による発光効率の低下や溶解性の低下とは異なることが分かった。また、この発光帯は完全な無酸素状態でなければ生じないことが分かった。さらに、フルオレンユニットに対して電子アクセプター性を有するユニットを共重合させることで、この緑色発光帯の出現を抑制できることが分かった。 |
| 抄録(英) | Polyfluorene (PFO) has been extensively studied as an efficient blue emitter for organic light-emitting diodes (OLED). However, degradation of PFO occurs under device operation and then results in emission color change due to appearance of a new green-emission band. The origin of the green-emission band has not been revealed yet due to the complex device structure of OLED. In this study, we find out that UV irradiation to sealed PFO results in the appearance of the green-emission band without the OLED device structure. This new method allows us to investigate the characteristics of the green-emission band taking out the influence of the other degradation phenomena. By means of this method, we conclude that the origin of the green-emission band is different from that of the decrease in EL efficiency or decrease in solubility of the polymer caused by device operation. We also find that the green-emission band only causes under the completely oxygen-free condition. Finally, we conclude that conjugated electron accepter unit, such as benzothiadiazole units, could suppress the color instability. |
| キーワード(和) | フルオレン / 色純度低下 / 蛍光 / 緑色発光帯 / 劣化 |
| キーワード(英) | fluorene / color instability / photoluminescence / green-emission band / degradation |
| 資料番号 | OME2010-80 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
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| 開催期間 | 2011/3/1(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Organic Material Electronics (OME) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 蛍光測定によるポリフルオレン薄膜の光劣化過程の観察 : 残留酸素の影響(ポリマー光回路,光機能材料,一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Photodegradation dynamics ofpolyfluorene thin films studied by means of photoluminescence spectroscopy : Influence of residual oxygen |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | フルオレン / fluorene |
| キーワード(2)（和/英） | 色純度低下 / color instability |
| キーワード(3)（和/英） | 蛍光 / photoluminescence |
| キーワード(4)（和/英） | 緑色発光帯 / green-emission band |
| キーワード(5)（和/英） | 劣化 / degradation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中川 将紀 / Masanori NAKAGAWA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大阪府立大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Osaka Prefecture University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小林 隆史 / Takashi KOBAYASHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大阪府立大学大学院工学研究科:大阪府立大学分子エレクトロニックデバイス研究所 Graduate School of Engineering, Osaka Prefecture University:The Research Institute for Molecular Electronic Devices, Osaka Prefecture University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 永瀬 隆 / Takashi NAGASE |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 大阪府立大学大学院工学研究科:大阪府立大学分子エレクトロニックデバイス研究所 Graduate School of Engineering, Osaka Prefecture University:The Research Institute for Molecular Electronic Devices, Osaka Prefecture University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 内藤 裕義 / Hiroyoshi NAITO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 大阪府立大学大学院工学研究科:大阪府立大学分子エレクトロニックデバイス研究所 Graduate School of Engineering, Osaka Prefecture University:The Research Institute for Molecular Electronic Devices, Osaka Prefecture University |
| 発表年月日 | 2011-03-08 |
| 資料番号 | OME2010-80 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 463 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |