| 講演名 | 2011-03-03 遅延時間差検出型アービターPUFによるセレクタ遅延時間測定評価(論理設計1,システムオンシリコンを支える設計技術) 村山 貴彦, 汐崎 充, 古橋 康太, 福島 照理, 藤野 毅, |
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| 抄録(和) | 耐タンパLSI回路技術として,製造ばらつきから複製困難なデバイス固有情報を生成するPhysical Unclonable Function(PUF)が注目されている.我々はPUFの一種であるアービターPUFのユニーク性を向上させた遅延時間差検出型アービターPUFを提案してきたが,遅延時間差の時間情報を用いるため製造ばらつきが遅延時間差分布に与える影響を設計時に抑えておくことが重要である.そこで,0.18μm CMOSプロセスで設計,試作したテストチップを用いて,セレクタ段数や環境変化(温度や電源電圧)が遅延時間差の分布に与える影響をシミュレーションと実測とで比較評価した.セレクタ8段の標準偏差は14.48psで,段数がN倍になると標準偏差が√ |
| 抄録(英) | Physical Unclonable Functions (PUFs) have been proposed to produce tamper-resistant device or create unique identifications of the secure systems. To achieve high uniqueness, we proposed a novel arbiter-PUF utilizing the Response Generation according to the Delay Time Measurement (RG-DTM) scheme. For design guideline of this RG-DTM PUF, effects between manufacturing variation and delay-time difference should be evaluated by simulation and measurement. So, the RG-DTM PUF was fabricated with 0.18μm CMOS technology, and the delay-time difference distribution was estimated. On the 8-stage RG-DTM PUF, the standard deviation was 14.48ps. When the number of the stages increased to N times, the standard deviation increased to √ |
| キーワード(和) | Physical Unclonable Function / 遅延時間差検出型アービターPUF / 製造ばらつき / 遅延時間差分布 |
| キーワード(英) | Physical Unclonable Function / RG-DTM PUF / Manufacturing Variation / Delay-Time Difference Distribution |
| 資料番号 | VLD2010-127 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2011/2/23(から1日開催) |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 遅延時間差検出型アービターPUFによるセレクタ遅延時間測定評価(論理設計1,システムオンシリコンを支える設計技術) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of Delay-Time Difference Distribution for the Delay-Time Difference Measurable Arbiter-PUF |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | Physical Unclonable Function / Physical Unclonable Function |
| キーワード(2)（和/英） | 遅延時間差検出型アービターPUF / RG-DTM PUF |
| キーワード(3)（和/英） | 製造ばらつき / Manufacturing Variation |
| キーワード(4)（和/英） | 遅延時間差分布 / Delay-Time Difference Distribution |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 村山 貴彦 / Takahiko MURAYAMA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 立命館大学理工学部 Faculty of Science and Engineering, Ritsumeikan University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 汐崎 充 / Mitsuru SHIOZAKI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 立命館大学総合理工学部研究機構 Research Organization of Science & Engineering, Ritsumeikan University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 古橋 康太 / Kota FURUHASHI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 立命館大学理工学部研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ritsumeikan University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 福島 照理 / Akitaka FUKUSHIMA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 立命館大学理工学部 Faculty of Science and Engineering, Ritsumeikan University |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 藤野 毅 / Takeshi FUJINO |
| 第 5 著者 所属（和/英） | 立命館大学理工学部 Faculty of Science and Engineering, Ritsumeikan University |
| 発表年月日 | 2011-03-03 |
| 資料番号 | VLD2010-127 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 432 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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