| 講演名 | 2011-02-14 欠陥検出テストのためのテストパターン選択(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般) 古谷 博司, 酒井 孝郎, 樋上 喜信, 高橋 寛, |
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| 抄録(和) | 微細化加工技術の進展に伴って,配線の欠陥によって生じる不良モードの多様化が問題となっている.そのため,従来の縮退故障および遷移故障に対するテストパターンでは十分なテストができない.本稿では,まず,故障励起関数および活性化経路評価関数に基づいて遷移故障テストパターンを評価するメトリクスを提案する.次に,それらのメトリクスに基づいてn回検出テスト集合からテストパターンを選択する手法を提案する.評価実験結果から,提案手法により得られたテストパターン集合は,より少ないテストパターン数でより多くの故障モデルを検出できることを示す. |
| 抄録(英) | With shrinking of LSIs, the diversification of defective mode due to defects becomes a critical issue. Therefore, test patterns for stuck-at faults and transition faults are insufficient to detect such defects. In this paper, we propose metrics based on the fault excitation functions and the propagation path function to evaluate test patterns for transition faults. We also propose the method for selecting the test patterns from the n-detection test set. From the experimental results, we show that the set of selected test patterns can detect more fault models under the less number of test patterns. |
| キーワード(和) | 欠陥 / 欠陥検出テスト / 故障励起関数 / テストパターン選択法 |
| キーワード(英) | defect / defect-aware test / fault excitation function / method for selecting test patterns |
| 資料番号 | DC2010-66 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2011/2/7(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 欠陥検出テストのためのテストパターン選択(テスト生成,VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Test Pattern Selection for Defect-Aware Test |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 欠陥 / defect |
| キーワード(2)（和/英） | 欠陥検出テスト / defect-aware test |
| キーワード(3)（和/英） | 故障励起関数 / fault excitation function |
| キーワード(4)（和/英） | テストパターン選択法 / method for selecting test patterns |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 古谷 博司 / Hiroshi FURUTANI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 酒井 孝郎 / Takao SAKAI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 樋上 喜信 / Yoshinobu HIGAMI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 高橋 寛 / Hiroshi TAKAHASHI |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 愛媛大学大学院理工学研究科 Graduate School of Science and Engineering, Ehime University |
| 発表年月日 | 2011-02-14 |
| 資料番号 | DC2010-66 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 413 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |