| 講演名 | 2011-02-14 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般) 坂井 僚太, 宮瀬 絋平, 温 暁青, 麻生 正雄, 古川 寛, 大和 勇太, 梶原 誠司, |
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| 抄録(和) | 実速度スキャンテストにおけるキャプチャ時の過渡な消費電力は,LSIテスト時にタイミングのエラーを引き起こし,歩留り低下の原因となる.そのため,テストベクトルに対して正確にキャプチャ安全性判定を行い,歩留り低下の原因となる危険なテストベクトルを判別することが重要である.本研究では,論理回路中の各ゲートで起こる遷移のタイミングを考慮したTTR(Transition-Time-Relation)キャプチャ安全性判定手法を提案する.実験結果では,TTRを用いることでキャプチャ安全性判定の正確性が向上することを示す. |
| 抄録(英) | Excessive capture power in at-speed scan testing may cause timing failures, resulting in test-induced yield loss. This has made capture-safety checking mandatory for test vectors. This paper presents a novel metric, called the TTR (Transition-Time-Relation) metric, which takes transition time relations into consideration in capture-safety checking. Capture-safety checking with the TTR metric greatly improves the accuracy of test vector sign-off and low-capture-power test generation. |
| キーワード(和) | 実速度テスト / ATPG / 低消費電力テスト / キャプチャ安全性判定 |
| キーワード(英) | At-speed testing / ATPG / Low-power-test / Capture-safety checking |
| 資料番号 | DC2010-60 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2011/2/7(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Dependable Computing (DC) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 実速度スキャンテストベクトルに対する遷移タイミング考慮キャプチャ安全性判定(低消費電力テスト・メモリテスト,VLSI設計とテスト及び一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Capture-Safety Checking Based on Transition-Time-Relation for At-Speed Scan Test Vectors |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 実速度テスト / At-speed testing |
| キーワード(2)（和/英） | ATPG / ATPG |
| キーワード(3)（和/英） | 低消費電力テスト / Low-power-test |
| キーワード(4)（和/英） | キャプチャ安全性判定 / Capture-safety checking |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 坂井 僚太 / Ryota SAKAI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院 Kyushu Institute of Technology |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 宮瀬 絋平 / Kohei MIYASE |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院 Kyushu Institute of Technology |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 温 暁青 / Xiaoqing WEN |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院 Kyushu Institute of Technology |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 麻生 正雄 / Masao ASO |
| 第 4 著者 所属（和/英） | ルネサスマイクロシステム株式会社 Renesas Micro Systems Co., Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 古川 寛 / Hiroshi FURUKAWA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | ルネサスマイクロシステム株式会社 Renesas Micro Systems Co., Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 大和 勇太 / Yuta YAMATO |
| 第 6 著者 所属（和/英） | 福岡県産業・科学技術振興財団 Fukuoka Industry, Science & Technology Foundation |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji KAJIHARA |
| 第 7 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院 Kyushu Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2011-02-14 |
| 資料番号 | DC2010-60 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 413 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |