| 講演名 | 2011-01-28 タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(1) 和田 真一, 越田 圭治, ノロブリン サインダー, 川述 真裕, 石塚 大貴, 柳 国男, 小田部 正能, 久保田 洋彰, 久我 宣裕, 澤 孝一郎, |
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| 抄録(和) | 著者らは,ハンマリング加振機構(HOM),摺動接触機構(SCM),および3次元加振機構(3DOM)によって外部微小振動が電気接点に与える影響について検討してきた.しかし,これらの機構では,対象物を専用のステージ上に載せる必要があるため,比較的大きなシステム内およびフィールド内における電気接点の試験を行うことには困難があった.そこで著者らは,専用のステージが必要なく,また,ある程度の定量性をもつ,ハンディな"タッピング・デバイス(TPD)"を開発し試作した.本デバイスによれば,実施者の特殊な技量によらず被加振物に対して定荷重・定エネルギーで加振できることが示唆された.さらに,数学的および機械工学的なモデルにより本デバイスの動作特性を解析することが可能であることが示された. |
| 抄録(英) | Authors have studied the influence on electrical contact resistance by external micro-oscillation using a hammering oscillation mechanism (HOM), a sliding contact mechanism (SCM) and a 3 dimensional oscillating mechanism (3DOM). However, it was difficult to inspect the degradation phenomenon of electrical contacts in relatively larger systems or in equipments in the field by means of the mechanisms in which the objective materials were requested to be on the stage. Therefore they have developed and made a handy "tapping device (TPD)" experimentally without a special stage for the inspection but with quantitative property to some extent. It was suggested that the device could provide the oscillations for the objects with constant loads and energies but without regard to proficient operators' skills. And it was shown that the dynamical characteristics of the device were able to be analyzed by virtue of mathematical and mechanical models. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 微小振動 / 接触抵抗 / タッピング・デバイス / ハンマリング加振機構 |
| キーワード(英) | electrical contact / micro-oscillation / contact resistance / tapping device / hammering oscillating mechanism |
| 資料番号 | EMD2010-141 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMD |
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| 開催期間 | 2011/1/21(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electromechanical Devices (EMD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | タッピング・デバイスによる電気接点の劣化現象 : タッピング・デバイスの試作(1) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by a Tapping Device : A tapping device for trial (1) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 微小振動 / micro-oscillation |
| キーワード(3)（和/英） | 接触抵抗 / contact resistance |
| キーワード(4)（和/英） | タッピング・デバイス / tapping device |
| キーワード(5)（和/英） | ハンマリング加振機構 / hammering oscillating mechanism |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi WADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co., Ltd. |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji KOSHIDA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co., Ltd. |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | ノロブリン サインダー / Saindaa NOROVLING |
| 第 3 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co., Ltd. |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 川述 真裕 / Masahiro KAWANOBE |
| 第 4 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co., Ltd. |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | 石塚 大貴 / Daiki ISHIZUKA |
| 第 5 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co., Ltd. |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | 柳 国男 / Kunio YANAGI |
| 第 6 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co., Ltd. |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | 小田部 正能 / Masayoshi KOTABE |
| 第 7 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co., Ltd. |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 久保田 洋彰 / Hiroaki KUBOTA |
| 第 8 著者 所属（和/英） | TMCシステム株式会社 TMC System Co., Ltd. |
| 第 9 著者 氏名（和/英） | 久我 宣裕 / Nobuhiro KUGA |
| 第 9 著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 Yokohama National University |
| 第 10 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro SAWA |
| 第 10 著者 所属（和/英） | 慶応義塾大学:日本工業大学 Keio University:Nippon Institute of Technology |
| 発表年月日 | 2011-01-28 |
| 資料番号 | EMD2010-141 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 403 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
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