講演名	2010-12-17 Misleading Energy and Performance Claims in Sub/Near Threshold Digital Systems ,
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抄録(和)
抄録(英)	Many of us in the field of ultra-low-V_ processors experience difficulty in assessing the sub/near threshold circuit techniques proposed by earlier papers. This paper investigates three major pitfalls which are often not appreciated by researchers when claiming that their circuits outperform others by working at a lower V_ with a higher energy-efficiency. These pitfalls include: i) overlook the impacts of different technologies and different V_	definitions, ii) only emphasize energy reduction but ignore severe throughput degradation, or expect impractical pipelining depth and parallelism degree to compensate this throughput degradation, iii) unrealistically assume that memory's V_ and energy could scale as well as standard cells. Therefore, the actual energy benefit from using a sub/near threshold V_ can be greatly overestimated. This work provides some design guidelines and silicon evidence to ultra-low-V_ systems. The outlined pitfalls also shed light on future directions in this field.
キーワード(和)
キーワード(英)	low energy / sub-threshold / near-threshold / digital circuits
資料番号	ICD2010-122
発行日

研究会情報
研究会	ICD
開催期間	2010/12/9(から1日開催)
開催地（和）
開催地（英）
テーマ（和）
テーマ（英）
委員長氏名（和）
委員長氏名（英）
副委員長氏名（和）
副委員長氏名（英）
幹事氏名（和）
幹事氏名（英）
幹事補佐氏名（和）
幹事補佐氏名（英）

講演論文情報詳細
申込み研究会	Integrated Circuits and Devices (ICD)
本文の言語	ENG
タイトル（和）
サブタイトル（和）
タイトル（英）	Misleading Energy and Performance Claims in Sub/Near Threshold Digital Systems
サブタイトル（和）
キーワード(1)（和/英）	/ low energy
第 1 著者 氏名（和/英）	/ Yu Pu
第 1 著者 所属（和/英）	University of Tokyo
発表年月日	2010-12-17
資料番号	ICD2010-122
巻番号（vol）	vol.110
号番号（no）	344
ページ範囲	pp.-
ページ数	6
発行日