| 講演名 | 2010-12-16 SRAMコアにおける電源/グラウンド雑音の評価(ポスター講演,学生・若手研究会) 利川 托, 桝井 翼, 澤田 卓也, 永田 真, |
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| 抄録(和) | SRAMの動作時における電源ノイズを評価するテストチップを90-nm CMOSプロセスにより設計・試作・評価した。本チップには,電圧を観察するためのチップ内電圧モニタ,メモリ不良ビット検知・解析のためのBIST回路、およびビットやワード構成の異なるSRAMマクロを搭載している。メモリの様々な動作条件において電源/グラウンド雑音の測定を行い、またユーザモード(任意ビットパターン)及びBISTモード(固定テストパターン)で比較した。メモリ動作時の電位変動の平均や振幅などを評価し、メモリ動作周波数に依存した電源ノイズが発生することがわかった.また本研究では、BIST回路を用いた不良ビット率(BER)や不良ビットマップ(FBM)の取得と、チップ内電圧モニタによる電源ノイズの測定を自動化する測定システムを構築し、電源ノイズと動作不良を関連付ける測定に挑戦している。 |
| 抄録(英) | Power noise of SRAM operation is evaluated with a test chip fabricated in a 90-nm CMOS technology. The chip includes on-die voltage monitors, BIST structures for failure bit detection and analysis, and a set of SRAM macros with different bit and word specifications. Power and ground noise waveforms are measured and compared in a variety of operation conditions in both user and BIST modes. It is found that power noise depends on an operating frequency of memory, in terms of their average and amplitudes. We are challenging to relate power noise and bit failures, by using automatic measurement systems of power noise, bit error rate, and fail bit map. |
| キーワード(和) | SRAM / 電源雑音 / オンダイモニタ |
| キーワード(英) | SRAM / Power noise / on-die voltage monitor |
| 資料番号 | ICD2010-112 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2010/12/9(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | SRAMコアにおける電源/グラウンド雑音の評価(ポスター講演,学生・若手研究会) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of power noise in SRAM core |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | SRAM / SRAM |
| キーワード(2)（和/英） | 電源雑音 / Power noise |
| キーワード(3)（和/英） | オンダイモニタ / on-die voltage monitor |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 利川 托 / Taku Toshikawa |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 神戸大大学院システム情報学研究科 Dept. of System Science , Kobe Univercity |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 桝井 翼 / Tsubasa Masui |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 神戸大大学院システム情報学研究科 Dept. of System Science , Kobe Univercity |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 澤田 卓也 / Takuya Sawada |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 神戸大大学院システム情報学研究科 Dept. of System Science , Kobe Univercity |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 永田 真 / Makoto Nagata |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 神戸大大学院システム情報学研究科 Dept. of System Science , Kobe Univercity |
| 発表年月日 | 2010-12-16 |
| 資料番号 | ICD2010-112 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 344 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |