| 講演名 | 2010-12-16 信号線・電源線ノイズのオンチップ測定と測定結果に基づいた特性の解析 : 学位取得までの道のりを振り返って(招待講演,学生・若手研究会) 小笠原 泰弘, |
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| 抄録(和) | 本稿では信号線のノイズの問題として誘導性クロストークノイズの問題について述べる.90nmプロセスにおける誘導性クロストークノイズによる配線遅延変動の実測,配線モデルおよびノイズ特性の検証を行う.また,実測で検証した配線モデルを用いて先端プロセスにおける容量性,誘導性クロストークノイズの回路遅延への影響を定量的に予測する.電源ノイズの問題に対して電源ノイズ波形に対するの遅延の特性の検証,フルチップで電源ノイズ波形をシミュレーションするための回路モデル,電源ノイズ波形測定回路の提案,および電源ノイズを低減するデカップリング容量の特性の検証について述べる. |
| 抄録(英) | This paper describes measurement results of inductive coupling effect on timing, and validation of interconnect model. The impact of capacitive and inductive crosstalk in prospective processes are quantitatively predicted using the validated model. This paper also measure power supply noise, and verifies a current model with capacitance and variable resistor and gate delay dependency on average voltage drop. All digital measurement circuit for power supply noise is proposed for observation of the characteristics of decoupling capacitance. |
| キーワード(和) | クロストークノイズ / 電源ノイズ / オンチップ測定 |
| キーワード(英) | crosstalk noise / power supply noise / on-chip measurement |
| 資料番号 | ICD2010-98 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2010/12/9(から1日開催) |
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| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 信号線・電源線ノイズのオンチップ測定と測定結果に基づいた特性の解析 : 学位取得までの道のりを振り返って(招待講演,学生・若手研究会) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Measurement and Characteristics Validation of On-chip Signal and Power Noise : Looking back on my doctral course (Invited talk) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | クロストークノイズ / crosstalk noise |
| キーワード(2)（和/英） | 電源ノイズ / power supply noise |
| キーワード(3)（和/英） | オンチップ測定 / on-chip measurement |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小笠原 泰弘 / Yasuhiro OGASAHARA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | ルネサスエレクトロニクス株式会社 Renesas Electronics Corporation |
| 発表年月日 | 2010-12-16 |
| 資料番号 | ICD2010-98 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 344 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |