| 講演名 | 2010-11-29 スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-) 山口 久登, 松薗 誠, 佐藤 康夫, 梶原 誠司, |
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| 抄録(和) | フィールドでの自己テスト(BIST)ではテストパターン情報をチップ内に保持する必要があるため,テストデータ量を極力少なくすることが重要である.本研究では,スキャンベースのBIST構造における故障検出率向上とテストデータ量削減を目的に,各テストパターンに対して複数回のキャプチャクロック発生によるマルチサイクルテストを行い,各回のクロックでフリップフロップにキャプチャされた値を部分的に観測可能にすることで,通常のスキャンベースBISTよりもテスト性を向上する構造を提案する.観測するフリップフロップの選択方法およびそれらの数と検出率向上効果の相関関係を報告する. |
| 抄録(英) | Reducing test data volume is important for field BIST because the data should be stored on a chip. In this paper, for the purpose of reducing test data and improving its fault coverage in scan-based BIST structure, we propose a multi-cycle test method which observes the value of partial flip-flops during capture operations. We evaluate the effect of fault coverage improvement and its dependency on choosing methods of observable flip-flops and a ratio of observed flip-flops. |
| キーワード(和) | BIST / マルチサイクルテスト / 複数観測 / スキャンテスト |
| キーワード(英) | BIST / multi-cycle test / multiple observation / scan test |
| 資料番号 | VLD2010-61,DC2010-28 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
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| 開催期間 | 2010/11/22(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
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| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | VLSI Design Technologies (VLD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | スキャンBISTにおけるマルチサイクルテストと部分観測方式の提案と評価(テスト設計1,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of Multi-Cycle Test with Partial Observation in Scan-Based BIST Structure |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | マルチサイクルテスト / multi-cycle test |
| キーワード(3)（和/英） | 複数観測 / multiple observation |
| キーワード(4)（和/英） | スキャンテスト / scan test |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 山口 久登 / Hisato YAMAGUCHI |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構CREST Department of Computer Science and Electronics Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 松薗 誠 / Makoto MATSUZONO |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学府情報システム専攻:独立行政法人科学技術振興機構CREST Department of Computer Science and Electronics Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 佐藤 康夫 / Yasuo SATO |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構CREST Department of Computer Science and Electronics Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji KAJIHARA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 九州工業大学大学院情報工学研究院電子情報工学研究系:独立行政法人科学技術振興機構CREST Department of Computer Science and Electronics Kyushu Institute of Technology:JST CREST |
| 発表年月日 | 2010-11-29 |
| 資料番号 | VLD2010-61,DC2010-28 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 316 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |