| 講演名 | 2010-11-29 SRAMコアにおけるオンチップ電源雑音の発生と注入の評価(電源雑音・伝送線路,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-) 澤田 卓也, 利川 托, 桝井 翼, 永田 真, |
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| 抄録(和) | SRAMメモリ不良を評価可能なテストチップを試作し,SRAMにおける電源雑音発生を評価,また外乱ノイズを電源へ注入することによってSRAMのノイズ耐性の評価を行った.評価の結果,SRAMの動作状態及び動作周波数に応じた電源雑音波形が観測できた.外乱ノイズを注入して不良ビット発生の評価を行った結果,ノイズ電力量に依存して不良ビット発生率も増加する傾向があることがわかった.さらに,外乱ノイズの周波数をパラメータとした測定において,低周波ノイズ印加時に不良率が増大することから,印加ノイズの振幅よりも平均電圧がエラー発生に対して支配的であるという可能性が得られた.これらの結果から,不良ビットの解析のために電源電位のダイナミック変動を考慮する必要性を示した. |
| 抄録(英) | The noise tolerance of SRAM was evaluated by evaluating the power supply noise generation, and injecting the RF noise into the power supply in the test chip that was able to evaluate SRAM memory. It was ascertained that the failure bit incidence tends to increase depending on the amount of the noise power as a result of evaluation of injecting the RF noise. In addition , the possibility that the average voltage was dominant in the failure bit incidence was obtained. The necessity for considering a dynamic power supply variation for the failure bit analysis was shown from these results. |
| キーワード(和) | SRAMメモリ / ビット不良 / ノイズ印加 / 電源雑音 |
| キーワード(英) | SRAM memory / bit failure / noise injection / power supply noise |
| 資料番号 | CPM2010-125,ICD2010-84 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD |
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| 開催期間 | 2010/11/22(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | |
| 委員長氏名（英） | |
| 副委員長氏名（和） | |
| 副委員長氏名（英） | |
| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Integrated Circuits and Devices (ICD) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | SRAMコアにおけるオンチップ電源雑音の発生と注入の評価(電源雑音・伝送線路,デザインガイア2010-VLSI設計の新しい大地-) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Evaluation of on-chip power noise generation and injection in SRAM core |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | SRAMメモリ / SRAM memory |
| キーワード(2)（和/英） | ビット不良 / bit failure |
| キーワード(3)（和/英） | ノイズ印加 / noise injection |
| キーワード(4)（和/英） | 電源雑音 / power supply noise |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 澤田 卓也 / Takuya SAWADA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 神戸大学大学院システム情報学研究科 Graduate School of System Informatics, Kobe University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 利川 托 / Taku TOSHIKAWA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 神戸大学大学院システム情報学研究科 Graduate School of System Informatics, Kobe University |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 桝井 翼 / Tsubasa MASUI |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 神戸大学大学院システム情報学研究科 Graduate School of System Informatics, Kobe University |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 永田 真 / Makoto NAGATA |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 神戸大学大学院システム情報学研究科:JST, CREST Graduate School of System Informatics, Kobe University:JST, CREST |
| 発表年月日 | 2010-11-29 |
| 資料番号 | CPM2010-125,ICD2010-84 |
| 巻番号（vol） | vol.110 |
| 号番号（no） | 315 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |